Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  obrazowanie obiektów
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The paper presents the design of the atomic force microscope. The basic criterion for its development was the ease of use associated with high measurement parameters. The used modular design of mechanical, control and software elements allows to make changes and in¬troduce modifications to extend the range of applications of the device. One such modification involving the imaging of objects using the measurement of the amplitude and the phase of the signal from the probe working in an intermittent contact mode was described.
PL
W artykule przedstawiono konstrukcję zbudowanego mikroskopu sił atomowych. Podstawowym kryterium przy jej opracowaniu była prostota obsługi przy zachowaniu wysokich parametrów pomiarowych. Zastosowano modułowość rozwiązań mechanicznych, sterowania i oprogramowania, co umożliwia wprowadzanie zmian i modyfikacji rozszerzających zakres zastosowań urządzenia. Opisano jedną z takich modyfikacji polegającą na obrazowaniu badanych obiektów z wykorzystaniem pomiaru amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pracującej w trybie kontaktu przerywanego.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.