Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  obraz dyfrakcyjny
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Automatic target recognition from diffraction patterns
EN
The paper presents the method of automatic diffraction pattern recognition. The proposed method is based on Fourier transform properties. It creates a possibility of bringing the problem to Fourier transform, extraction of characteristic feature vectors and classification. The method has been illustrated by a simple difference algorithm of the of ring-based ordering of diffraction patterns.
PL
Referat prezentuje metodę automatycznego rozpoznawania obrazów dyfrakcyjnych. Proponowana metoda, oparta na jest właściwościach transformaty Fouriera. Stwarza ona możliwość sprowadzenia problemu do transformaty Fouriera, ekstrakcji wektora cech charakterystycznych i klasyfikacji. Metodę zilustrowano prostym algorytmem różnicy uporządkowania pierścieniowego obrazów dyfrakcyjnych.
PL
W pracy przedstawiono wyniki eksperymentalnych badań, dotyczących wpływu lokalnego laserowego (impulsowego) nagrzewania taśm amorficznych Fe-Si-B, w celu uzyskania struktury nanokrystalicznej w osnowie amorficznej, która wykazuje doskonałe własności magnetyczne tj.: niską wartość pola koercji, wysoką wartość początkową, podatność magnetyczną. Analiza dotyczyła również zmian struktury domen magnetycznych za pomocą mikroskopii elektronowej. Badania wykazały, że użycie wiązki laserowej o relatywnie niskiej energii z nachodzącymi na siebie kilkoma nagrzanymi obszarami, prowadzi do otrzymania jednorodnej nanostruktury w nagrzanych obszarach materiału. Wykazano ponadto, że laserowe nagrzewanie stopu FeSiB, które prowadzi do znacznego rozdrobnienia struktury krystalicznej (nanostruktury), nie wprowadza istotnych zmian własności magnetycznych w porównaniu do stopu amorficznego.
EN
The results of an experimental investigations in running were introduced was, relating the local pulsed laser the heating of amorphous ribbons Fe-Si-B, it in aim of obtainment the nanostructure in amorphous matrix as well as it improvement the magnetic properties (low value of field of coercive force, high magnetic susceptibility). Analysis concerned of the changes of magnetic domains structure by using electron microscopy. The investigation showed, that using of relatively low laser beam energy with subsequent overlapping of heated areas permitted to get uniformly nanocrystallized material. Moreover, it has been shown, that the laser heating of FeSiB alloy, which provides considerable refinement of its microstructure (nanostructure), does not significantly changes its magnetic properties as compared to amorphous alloy.
PL
Identyfikacja faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych ma potencjalnie szerokie zastosowanie w inżynierii materiałowej. Mimo, że jest to metoda stosunkowo prosta to jednak otrzymywane linie dyfrakcyjne nie zawsze są prawidłowo detektowane przez komputer. Przyczyny tego tkwią najczęściej w preparatyce próbek. W pracy przedstawiono wpływ sposobu w jaki zostały przygotowane zgłady metalograficzne wybranych materiałów na jakość otrzymywanych obrazów dyfrakcyjnych, a tym samym na możliwości identyfikacji obserwowanych faz. Przeprowadzone badania wykazały, że sposób przygotowania zgładów metalograficznych w bardzo dużym stopniu wpływa na identyfikację faz. Przy czym trudno jest ustalić uniwersalną preparatykę dla wszystkich materiałów.
EN
Electron back scattered diffraction method of phases identification potentially has broad application in the materials science. Despite the fact that this method is relatively simple, obtained diffraction lines are not always correctly identified by a computer. Purposes of this are - in most cases - because of the samples preparation. The influence of the metallographic specimens preparation method of chosen materials on the quality of EBSP and on the possibility of phases identification has been presented in this work. During the research it was shown that the method of metallographic specimens preparation influences significantly the phases identification. In the mean time is very difficult to state the universal method of preparation for all the materials.
EN
One of the most interesting developments in the area of quantitive metallography has been the possibility of obtaining diffraction patterns (electron back-scattering patterns or EBSPs) in the scanning electron microscope. The presentation gives a short description of the EBSP method and also the way in which it can be combined with automatic movement of the electron beam position to create an orientation imaging micrograph (OIM). Examples are then given of various applications of the EBSP/OIM method to practical problems relating to industrial metallic materials.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.