W pracy przedstawiono opis programu do modelowania właściwości optycznych obiektów jednorodnych oraz uzyskane przykładowe wyniki. Program opracowano w środowisku LabVIEW. Zastosowany algorytm pozwala na prowadzenie symulacji wpływu długości drogi optycznej na natężenie promieniowania przepuszczonego przez ośrodki optyczne. Program umożliwia prezentację wyników skanowania ośmiu obiektów i porównanie ich w dowolnym kroku skanowania. Przyjęty do badań model obiektu ma strukturę warstwową. Każda warstwa opisana jest jej grubością i współczynnikami optycznymi, które charakteryzują absorpcję, rozpraszanie i anizotropię. Wyniki modelowania prezentowane są w formie graficznej (oscylogram) oraz zostają zestawione w tabeli. Za pomocą oscylogramu można przeprowadzić analizę charakterystycznych punktów i rozdzielić odcinki optycznie cienkich i optycznie grubych składowych transmitancji. Program umożliwia przeprowadzenie skanowania dowolnego obiektu, mając na uwadze jego parametry optyczne oraz uwzględniając zależności matematyczne charakteryzujące transmitancję w kierunku prześwietlania. Zastosowanie w modelowaniu wspomagania komputerowego przyspiesza proces obliczeń, jest także narzędziem wspomagającym pozyskiwanie danych, umożliwia tworzenie wirtualnych wariantów modelu i doskonalenie metod badania w warunkach rzeczywistych.
EN
In the paper the description of a program for modeling of optical homogeneous objects properties is presented. Selected examples of results are given. The program was prepared using LabVIEW environment. The applied algorithm makes it possible to perform simulation how the optical pathway influences the intensity of light transmitted through optical media. It is possible to compare results of scanning made on eight at any step scanning. The investigated object model is of layered homogeneous structure. Each layer is described by its thickness and optical coefficients, which specify absorption, scattering and anisotropy. The results of simulation are presented graphically as well as collected in tables. Plots enable analysis of the characteristic points where a given component layer is either optically thin or thick. Modeling with computer aid increases the speed of calculations and data collection as well as makes possible creating virtual variants of a model and improving measurements of real objects.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.