PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 9

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  non-uniformity correction
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Test stand and procedures for estimating parameters of microbolometer detector
Krupiński M., Chmielewski K., Bareła J., Kastek M.
Measurement Automation Monitoring
|
2017
|
Vol. 63, No. 2
73--75
EN
In this paper we present a test stand and a procedures to test the functionality of a microbolometer detector. Presented test stand is integrated with temperature driver to stabilize the temperature of a black body and the detector. Digital board with implemented application allows for capturing raw data, correcting non-uniformity, testing noise, sensitivity and NETD (noise equivalent temperature difference). Integration with temperature driver allows for more accurate and repeatable measurements.
2
Content available remote Acceleration algorithm for constant-statistics method applied to the nonuniformity correction of infrared sequences
Jara-Chavez A. G., Torres-Vicencio F. O.
Opto-Electronics Review
|
2015
|
Vol. 23, No. 1
116-119
EN
Non-uniformity noise, it was, it is, and it will probably be one of the most non-desired attached companion of the infrared focal plane array (IRFPA) data. We present a higher order filter where the key advantage is based in its capacity to estimates the detection parameters and thus to compensate it for fixed pattern noise, as an enhancement of Constant Statistics (CS) theory. This paper shows a technique to improve the convergence in accelerated way for CS (AACS: Acceleration Algorithm for Constant Statistics). The effectiveness of this method is demonstrated by using simulated infrared video sequences and several real infrared video sequences obtained using two infrared cameras.
3
Content available Non-uniformity correction in microbolometer array with temperature influence compensation
Krupiński M., Bieszczad G., Sosnowski T., Madura H., Gogler S.
Metrology and Measurement Systems
|
2014
|
Vol. 21, nr 4
709--718
EN
In the article a non-uniformity correction method is presented which allows to compensate for the influence of detector’s temperature drift. For this purpose, dependency between output signal value and the temperature of the detector array was investigated. Additionally the influence of the temperature on the Offset and Gain coefficients was measured. Presented method utilizes estimated dependency between output signal of detectors and their temperature. In the presented method, the shutter is used for establishing signal reference. Thermoelectric cooler is used for changing the temperature of the detector array.
4
Content available remote Metoda wyznaczania czułości napięciowej detektorów podczerwieni z uwzględnieniem właściwości układu optycznego
Gogler S., Bieszczad G., Krupiński M., Zarzycka A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 10
65-68
PL
W artykule opisano metodę wyznaczania czułości detektorów podczerwieni w matrycy mikrobolometrycznej. W metodzie uwzględniono parametry geometryczne i optyczne matrycy detektorów podczerwieni oraz układu pomiarowego do wyznaczania czułości detektorów podczerwieni. Zastosowana metoda pozwala na wyznaczenie czułości napięciowej w układach pomiarowych współpracujących z układami optycznymi o dużych kątach aperturowych, gdzie zależność „cos4(θ)” nie jest dość dobrym przybliżeniem.
EN
In the article a method of determination of a microbolometric focal plane array voltage sensitivity has been described. In the method optical system illumination non-uniformity has been taken into account. Presented method allows for sensitivity determination in setups with low fnumber optics, where “cos4(θ)” is no longer a valid approximation.
5
Model wpływu układu optycznego na czułość detektorów podczerwieni w matrycy mikrobolometrycznej
Gogler S., Bieszczad G., Krupiński M., Sosnowski T.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2012
|
Vol. 53, nr 10
40-42
PL
Kamery termowizyjne oraz używane w nich matrycowe detektory podczerwieni w procesie produkcyjnym są poddawane procedurze kalibracji i wyznaczania czułości napięciowej na padające na nie promieniowanie. Detektory na stanowisku kalibracyjnym są oświetlane promieniowaniem podczerwonym poprzez specjalne układy optyczne. Każdy układ optyczny zastosowany w torze optycznym wpływa na rozkład promieniowania padającego na powierzchnie matrycy detektorów. W artykule opisano model służący do opisu rozkładu natężenia promieniowania podczerwonego padającego na matryce detektorów podczerwieni z układem optycznym zastosowanym w stanowisku do kalibracji kamer termowizyjnych. W metodzie tej uwzględniono parametry geometryczne i optyczne matrycy detektorów podczerwieni oraz układu pomiarowego. Opracowany model porównano z wynikami symulacji przeprowadzonymi w programie Zemax.
EN
Thermal imagers and used therein infrared array sensors are subject to calibration procedure and evaluation of their voltage sensitivity on incident radiation during manufacturing process. The detectors used in calibration set-up are illuminated by infrared radiation transmitted through a specialized optical system. Each optical system used influences irradiation distribution across an array sensor. In the article a model describing irradiation distribution across an array sensor working with an optical system used in the calibration set-up has been proposed. In the said method optical and geometrical considerations of the array set-up have been taken into account. Proposed model has been venfied with results of simulation carried out in Zemax software.
6
Metoda wyznaczania czułości mikrobolometrycznych detektorów podczerwieni z zastosowaniem wymiennych przesłon optycznych
Bieszczad G., Gogler S., Krupiński M., Madura H.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2012
|
Vol. 53, nr 10
36-39
PL
W artykule opisano metodę wyznaczania czułości detektorów podczerwieni w matrycy mikrobolometrycznej. W metodzie tej uwzględniono parametry geometryczne i optyczne matrycy detektorów podczerwieni oraz układu pomiarowego. Opracowano specjalne stanowisko pomiarowe składające się z dwóch precyzyjnych powierzchniowych ciał czarnych, przesłon ograniczających aperturę układu pomiarowego, interfejsu elektronicznego od akwizycji danych odczytywanych z matrycy detektorów podczerwieni oraz algorytmu do korekcji wartości czułości z uwzględnieniem parametrów optycznych toru pomiarowego.
EN
In article the method of determining the sensitivity of detectors in a microbolometer array is described. In this method geometrical and optical parameters of the detector array and the measurement system are taken into account. A special test bench was constructed and is consisting of: two precise surface black bodies, aperture limiter, an electronic interface for data acquisition and software for measurement results correction taking into account the optical parameters of the measuring stand.
7
Content available remote Shutterless method for gain nonuniformity correction of microbolometer detectors
Olbrycht R., Więcek B. B., Świątczak T.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 11a
120-122
EN
In this paper the new method of gain non-uniformity correction of microbolometer detectors is presented. The principle of this method is based on using an additional source of infrared radiation, which provides the excitation to the detector in parallel with the radiation of observed scene. The response of the detector to the excitation is calculated using frequency analysis, and it contains the information about the detector’s gain non-uniformity. This method enables a thermal camera to perform a live gain correction without using a shutter.
PL
W artykule została zaprezentowania nowa metoda korekcji niejednorodności wzmocnienia detektorów mikrobolometrycznych stosowanych w kamerach termowizyjnych. Metoda bazuje na wykorzystaniu promiennika podczerwieni jako źródła dodatkowego promieniowania podczerwonego. Analiza częstotliwościowa odpowiedzi detektora pozwala otrzymać informację o niejednorodności wzmocnienia.
8
Content available Kompensacja rozrzutu czułości detektorów mikrobolometrycznych w obserwacyjnej kamerze termowizyjnej
Orżanowski T., Sosnowski T., Kastek M.
Prace Instytutu Elektrotechniki
|
2008
|
Z. 237
21-30
PL
W artykule jest przedstawiony algorytm kompensacji rozrzutu czułości detektorów mikrobolometrycznych oraz jego realizacja sprzętowa i zastosowanie. Algorytm zawiera właściwości korekcji jednopunktowej i korekcji dwupunktowej, które są stosowane do kompensacji niejednorodności odpowiedzi matryc detektorów podczerwieni. W zaproponowanym algorytmie liczba operacji matematycznych wykonywanych sprzętowo podczas korekcji odpowiedzi detektora w matrycy jest ograniczona do jednego mnożenia i dwóch operacji dodawania. Algorytm korekcji był testowany z matrycą mikrobolometryczną o rozdzielczości 384x288 pikseli i rozmiarze detektora 35 µm firmy ULIS (Francja). Źródłem jednorodnego promieniowania podczerwonego było specjalne ciało czarne o dużej powierzchni promieniującej. W wyniku badań uzyskano niejednorodność odpowiedzi matrycy po korekcji poniżej 0,16 % dla zakresu temperatury ciała czarnego od 20°C do 50°C i temperatury otoczenia 21°C ± 2,5°C. Niejednorodność odpowiedzi matrycy bez korekcji wynosiła 8,1 %.
EN
A nonuniformity correction (NUC) algorithm for microbolometer infrared focal plane array (FPA) and its hardware implementation and application are presented. The NUC algorithm includes features of the one-point correction and the two-point correction which are used for compensation of FPA response nonuniformity. In proposed NUC algorithm the number of mathematical operations performed by hardware to compensate a response nonuniformity of particular detectors in array is reduced to one multiplication and two additions. As the uniform infrared source a special extended black body was applied. The NUC algorithm was tested with the 384x288 microbolometers FPA with 35µm pixel-pitch manufactured by ULIS (France). During tests the microbolometer FPA response nonuniformity (RNU) after correction was obtained under 0.16% (std dev/mean) at the blackbody temperature range from 20°C to 50°C and the ambient temperature of 21°C ± 2.5°C. The RNU value without any correction was equaled 8.1%.
9
Content available Analiza układu odczytu do matrycy detektorów mikrobolometrycznych
Orżanowski T., Madura H., Powiada E., Pasierbiński J.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2006
|
R. 52, nr 9
16-20
PL
W artykule opisano budowę i działanie scalonego układu odczytu (ROIC) stosowanego w matrycach mikrobolometrycznych detektorów podczerwieni. Omówiono właściwości pojemnościowego wzmacniacza transimpedancyjnego użytego w układzie ROIC do odczytu sygnału z pojedynczego mikrobolometru w matrycy. Przedstawiono podstawowe parametry monolitycznych matryc mikrobolometrycznych z detektorami z krzemu amorficznego domieszkowanego wodorem. Opisano również metodę dwupunktowej kalibracji stosowaną do korekcji niejednorodności matryc detektorów podczerwieni.
EN
In this paper we describe the structure and the operation of a readout integrated circuit (ROIC) used in microbolometer infrared focal plane arrays (IRFPAs). The properties of a capacitive transimpedance amplifier employed in ROIC to readout a signal from a single microbolometer in FPA are analyzed in detail. The basic parameters of monolithic microbolometer IRFPAs with IR detectors made of hydrogen doped amorphous silicon are presented. The two-point calibration method for a non-uniformity correction (NUC) of IRFPAs is also described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.