Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Haase A.

1 2002

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: non-destructive surface testing

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

New challenge for instrumentation in lab and industry: X-ray measurements on surfaces of large components.

Haase A.

Inżynieria Materiałowa

2002

R. XXIII, nr 5

707-707

A new Diffractometer 'ETA' for surface gradient investigations has been designed to study polycrystalline materials in the near surface region. In contrast to standard instrument geometry for phase, texture and stress analysis on homogeneous materials it is possible to perform measurements on materials with gradient fields like stress, texture and composition gradient of some combination of it. The new 5-circle diffractometer concept allows for a Theta-Theta Bragg reflection condition a sample rotation Eta around the scattering vector for fixed positions (Phi, Chi) with respect to the sample system. Information of depth distribution of gradients compared to classical average penetration results can be described in applications of thin films or gradient standards.

Nowy dyfraktometr "Eta" do pomiaru podpowierzchniowych gradientów został skonstruowany tak, by zbadać polikrystaliczne materiały w obszarach w warstwach podpowierzchniowych. W przeciwieństwie do geometrii standardowych urządzeń do badania faz, tekstur i analizy naprężeń w jednorodnych materiałach, tutaj możliwe jest przeprowadzenie pomiarów dla materiałów z gradientowym polem naprężeń, tekstury i gradientem składu chemicznego lub kombinacji powyższych. Koncepcja nowego 5-cio łukowego dyfraktometru pozwala na: spełnienie warunków odbicia Braggowskiego typu Theta-Theta, rotacji próbki ETA dookoła wektora rozproszenia dla stałej pozycji (Phi, Chi) w odniesieniu do systemu próbki. Informacje odnośnie głębokości dystrybucji gradientów porównane do klasycznej średniej penetracji mogą być opisane w zastosowaniach do cienkich folii lub gradientowych standardów.