Artykuł dotyczy nowego przyrządu mierzącego rezystancję nitek elektroprzewodzących i obliczającego nierównomierność ich rezystancji liniowej. Sterowanie elementami wykonawczymi oraz akwizycja danych pomiarowych wraz z ich przetwarzaniem i analizą odbywa się w wirtualnym przyrządzie pomiarowym skonstruowanym w programie LabVIEW. Przedstawiono wyniki badań dwóch rodzajów nitek oraz dokonano porównania ich przydatności do zastosowania w systemach tekstronicznych.
EN
The paper concerns a new device for measuring resistance of electroconductive threads and counting irregularity of their linear resistance. Controlling the executive elements, acquiring the measuring data as well as its processing and analysing takes place in a virtual measuring device constructed in LabVIEW programme. The paper presents research results for two types of threads and compares their utility for textronic applications
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.