Opisano proste modele nieuszkadzalności ze względu na uszkodzenia częściowe urządzenia telekomunikacyjnego. Dla okresu stałej intensywności strumienia uszkodzeń podano zależności matematyczne dla : sumarycznego czasu zdatności do k- tego uszkodzenia, liczby uszkodzeń w założonym przedziale czasu oraz pozostałego czasu do uszkodzenia.
EN
In the article simple reliability models in consideration of partial failures of the device are discussed. For constant failure intensity period mathematical dependencies are given for: accumulated up time till the k-th failure, number of failures in the assumed time interval as well as the remaining time to failure.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.