Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: niezawodność mikroukładów

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC oparta na monitorowaniu średniej wartości prądu /DD

Dziurdzia P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 11

23-25

Przedstawiono możliwości wykorzystania monitorowania średniej wartości prądu /DD do śledzenia poprawnego funkcjonowania systemów SoC. Zaprezentowano zalety monitorowania prądu /DD do wykrywania błędów dynamicznych związanych z naruszeniem szybkości narastania i opadania sygnałów zegarowych, skutkujących następnie zwiększonymi czasami propagacji. Przedstawiono również wpływ uszkodzeń trwałych, objawiających się zwiększonymi pojemnościami pasożytniczymi lub zmniejszonymi rezystancjami pomiędzy węzłami układu na przebieg sygnałów napięciowych i odpowiadających im wartościom średniego prądu /DD.

In the work possible applications of monitoring of mean value of lt current to following up SoC operation is shown. Benefits of /DD rent monitoring in detecting timing constraints violations connected with transition times of clock signals manifested next in increased propagation delays are presented. Also effects of permanent defects resulting from increased parasitic capacitances and decreased parasitic resistances between nodes of the SoC cells are considered, their influence on voltage signals and corresponding mean values of /DD current is shown. At the end results of simulations for selected defects implemented in 0.35 µm technology are discussed.