Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: negative ion source

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Suppressing of Co-Extracted Electrons in a Negative Ion Source-Numerical Simulation

Turek Marcin, Węgierek Paweł

Advances in Science and Technology. Research Journal

2022

Vol. 16, no 5

1--10

Electron co-extraction and suppression by a transverse magnetic fields is studied within a two dimensional particle-in-cell numerical model of surface ionisation ion source with beveled extraction opening. A novel approach of data presentation is proposed, based on the fact that dependences of co-extracted current on the filter strength could be approximated by four parameters only, describing e.g. initial electron current value and cut-off B value. In the paper the influence of extraction system geometry is considered – it is shown that the cut-off B value increases with the size of the opening in the extraction electrode, while the inclination of the extraction opening walls does not play any significant role. It is demostrated that the most of electron is eliminated by hiting the extraction electrode walls, however up to 30 % of electrons were lost by encountering the extraction channel walls due to the modification of their trajectories by the filter field. The influence of the magnetic filter field placement is also investigated – the center of the filter field has to be no further than 2 mm form the extraction channel orifice in order to achieve minimal values of the cut-off field (~20 mT). The possibly low extraction voltages are preferable, as the ammount of co-extracted electrons grows rapidly with Vext resulting in e.g. threefold increase of cut-off parameter value when extraction voltage is changed from 1 kV up to 10 kV. Within the considered model the filter field does not have any significant influecne on extracted H- current.

Symulacje PIC plazmy w źródle jonów ujemnych

Turek M.

Przegląd Elektrotechniczny

2016

R. 92, nr 8

162--165

W artykule zaprezentowano bazujący na metodzie Particle-In-Cell model numeryczny plazmy w źródle jonów ujemnych. Omówiono wpływ napięcia ekstrakcyjnego na rozkład potencjału i gęstości składników plazmy. Zaobserwowano powstawanie bariery potencjału w pobliżu powierzchni emitującej jony H- , jak również nietypowy (mający dwa maksima) profil gęstości ładunku w ekstrahowanej wiązce jonów H-. Otrzymana na drodze symulacji krzywa prądowo-napięciowa ulega nasyceniu dla napięć ekstrakcyjnych powyżej 20 kV.

A Particle-In-Cell method based numerical model of plasma inside a negative ion source is presented. Influence of the extraction potential on the distributions of potential and plasma components inside the chamber is considered. A potential barrier neart the H- emitting surface is observed, as well as non-typical (characterised by two peaks) profile of the extracted H- beam. A saturation of the calculated current-voltage is observed for extraction voltages above 20 kV.

Spektrometr mas do analizy izotopowej chloru

Pelc A., Hałas S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 1

21-22

Stosowana obecnie, a jednocześnie najbardziej precyzyjna metoda analizy stosunku izotopowego chloru oparta jest na spektrometrii mas z jonizującą wiązką elektronową (RMS). W metodzie tej chlor z próbki przekonwertowany do postaci chlorometanu (CH₃Cl) jest jonizowany wiązką elektronową i analizowany w sektorze magnetycznym spektrometru mas. Widmo masowe otrzymane tą metodą jest raczej skomplikowane, a stosunek natężeń prądów jonowych najbardziej efektywnie generowanych jonów (masa-52/masa-50) różni się od stosunku izotopowego ³⁷Cl/³⁵Cl. Ponadto tylko ok. 80% wszystkich formowanych w źródle jonów jest użyteczne w analizie (masa 52 i 50). Aby uniknąć tych problemów skonstruowaliśmy spektrometr jonów ujemnych, w którym zostało zmodyfikowane źródło jonów (w porównaniu do IRMS). W nowym typie źródła jony ³⁵Cl⁻ i ³⁷Cl⁻ są generowane z wydajnością zależną od materiału i temperatury katody.

The most precise method of chlorine isotope analysis described to date is based on the isotope ratio mass spectrometry (IRMS) of chlorine quantitatively converted to chloromethane. The IRMS mass spectrum of chloromethane is rather complicated and the ratio of the most abundant peaks (mass-52/mass-50) differs from the isotope ratio. Moreover the electron impact ion source yields only ca. 80% of all ionic species at the useful masses 50 and 52. To overcome these drawbacks, we have devised a negative ion mass spectrometer in which the ion source was modified in comparison to the IRMS. In the type of the ion source the ³⁵Cl⁻ and ³⁷Cl⁻ ions are produced with efficiency dependent on the filament material and its temperature.