Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały
1 Przegląd Elektrotechniczny
1 Scientific Papers of The Institute of Electrical Machines, Drives and Measurements of the Wrocław University of Science and Technology Series: Studies and Research

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: napięciowy współczynnik rezystancji

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wpływ napięcia na wyniki precyzyjnych pomiarów dużych rezystancji

Krawczyk K.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 11b

196-198

W pracy opisano hierarchiczny układ przekazywania jednostki rezystancji. Wymienione zostały czynniki wpływające na wyniki pomiarów dużych rezystancji oraz podane zostały przykładowe rozwiązania umożliwiające minimalizacje wpływu tych czynników. Szczegółowo opisano wpływ napięcia na wyniki pomiarów dużych rezystancji. Przedstawiono problematykę braku informacji o napięciu pomiarowym dla rezystorów wzorcowych oraz pokazano możliwe błędy z tego wynikające.

In this paper hierarchic system for resistance unit transfer has been described. Factors influencing high resistance measurements have been recognized and possible solutions for minimization of their influence have been shown. Influence of measurement voltage on the resistance measurements have been described in details. Problems of lack of information about the measurement voltage for resistance standards have been presented together with errors that may result from it.

Problemy badawcze i interpretacyjne napięciowego współczynnika rezystorów o dużych rezystancjach

Madej P.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

2009

Vol. 63, nr 29

509-524

Zależność rezystancji od napięcia, czyli nieliniowość rezystora jest w elektrometrii jednym z poważniejszych problemów. Można wyróżnić dwa zakresy napięcia, związane z podstawowymi zastosowaniami rezystorów o dużych rezystancjach: duże napięcia w źródłach napięć testowych, komorach jonizacyjnych, aparaturze rentgenowskiej i wreszcie w wysokonapięciowych testerach izolacji, gdzie wartości są rzędu od dziesiątków V nawet do setek kV, oraz druga grupa o małych napięciach nawet od ułamków mV do około 10 V, gdy rezystory pełnią funkcję elementów wzorcowych w aparaturze elektrometrycznej. Ten sam rezystor, doskonały w jednym zakresie, może być kiepski w drugim. Metody i aparatura do badanie rezystorów w pierwszym zakresie napięciowym są znane i stosowane bez żadnych, pozornie problemów. Wypunktowano nie do końca jednoznacznie zdefiniowane sposoby obliczenia i zasady wykorzystania wielkości opisujących właściwości rezystora. W drugim zakresie napięcia pojawiają się przy badaniach rezystorów poważne problemy, szczególnie przy małych napięciach < 1 V. Wynikają one z dużego wpływu szumu rezystora oraz granicy rozdzielczości stosowanej aparatury. Zaproponowano nietypowe rozwiązania, wspierające a nawet wypierające klasyczne metody i aparaturę.

Voltage depedence of the resistance, otherwise nonlinearity of resistor is one of the serious problems in electrometry. There are two ranges of voltage related to basic applications of high value resistors: higher voltages in test voltage sources, ionization chambers, X-ray devices and insulation testers at very high voltages, where values are from several tens of volts even to hundreds kilovolts, and second group with low voltages (even from fraction of milivolt to near ten volt), where resistors are reference elements in electrometric devices. The same resistor, perfect in the first range, may be poor in the second. Methods and apparatus for resistors testing in the first voltage range are known and applied apparently without any problems. There are pointed not to the end clear methods of calculation and rules of using parameters describing the properties of the resistor. Serious problems occured with testing resistors at the second voltage range, especially at the lowest voltages < 1 V. These effects result from the influence of resistor noise and resolution limits of the applied apparatus. Untypical solutions are proposed to support or even to eliminate classical methods and apparatus.