Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: nanotopografia

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analiza możliwości pomiarów nanotopografii

Andrałojć P.

Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją

2007

Nr 7

5-14

Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni. W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry.

Because of technological growth metrology is made to take measurements of surface roughness in nanometer scale and visualizing the surface nano-texture. This article is presented comparison between methods of nanotopografy with the best vertical resolution e.g. scanning probe microscopy, interferometers and Stylus profilometers.