Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  nanosecond generator
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The present paper describes a new architecture of a high-voltage solid-state pulse generator. This generator combines the two types of energy storage systems: inductive and capacitive, and consequently operates two types of switches: opening and closing. For the opening switch, an isolated gate bipolar transistor (IGBT) was chosen due to its interesting characteristics in terms of controllability and robustness. For the closing switch, two solutions were tested: spark-gap (SG) for a powerful low-cost solution and avalanche mode bipolar junction transistor (BJT) for a fully semiconductor structure. The new architecture has several advantages: simple structure and driving system, high and stable controllable repetition rate that can reach 1 kHz, short rising time of a few nanoseconds, high gain and efficiency, and low cost. The paper starts with the mathematical analysis of the generator operation followed by numerical simulation of the device. Finally add a comma the results were confirmed by the experimental test with a prototype generator. Additionally, a comparative study was carried out for the classical SG versus the avalanche mode BJT working as a closing switch.
PL
Dokonano klasyfikacji błędów pojawiających się w trakcie pracy urządzeń mikroprocesorowych. Opisano system monitorowania błędów pojawiających się w mikroprocesorowych systemach sterowania pod wpływem zakłóceń zewnętrznych. Przygotowano stanowisko badawcze z wykorzystaniem nanosekundowego generatora impulsów zakłócających i przeprowadzono badania wrażliwości mikroprocesorowych układów sterowania na zakłócenia elektromagnetyczne.
EN
The errors occurring in work of microprocessor devices have been classified and a system for monitoring them has been developed. A testing station with a nonosecond generator of interfering pulses has been designed and the sensitivity to electromagnetic interference of microprocessor control systems has been tested.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.