Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2009

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: multispectral interferometry

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Interferometr multispektralny do pomiaru długości płytek wzorcowych klasy K

Pakuła A., Sałbut L., Łukaszewski D., Wengierow M.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

2009

Vol. 58, nr 1

405-413

Przedstawiony niżej tekst opisuje problem pomiaru długości długich płytek wzorcowych klasy K, o długości do 1000 mm, przy wykorzystaniu interferometru multispektralnego. W artykule przedstawiono wymagania, założenia i koncepcję interferometru multispektralnego opartego na układzie Twymana-Greena z automatyczną analizą obrazów prążkowych, wykorzystującego promieniowanie o długości fali: λ₁ = 632,8 nm i λ₂ = 543 nm.

The paper is dedicated to a problem of long gauge blocks, class K, length measurements. The main concept, requirements and asumptions concerning the multispectral interferometer based on the Twyman-Green setup with automatic fringe pattern analysis, working with the laser wavelengths λ₁= 632.8 nm and λ₂ = 543 nm were presented.