In this paper a new testing method of an analogue electronic circuits is presented. The method is based on the idea of using multidimensional search space in order to increase testability and observability of the circuit under test (CUT). Heuristic algorithm particle swarm optimization (PSO) has been applied for continuous optimization problem. Practical example is considered and results shows that using more than one dimension during test of CUT can significantly improve number of unequivocally located states of CUT.
PL
W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.