Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: model dwuwarstwowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Influence of the magnetic field on the charge transport in InxGa1-xAs (0 x ≤ x ≤ 1) MBE layers

Wolkenberg A., Przesławski T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 2

72-75

The Hali effect and magnetoresistance measurements in InxGa1-xAs alloys have been carried out over the entire range of compositions x(x=0, x=0.53 and x=1) in the magnetic field up to 1.5 T. InGaAs layers were grown by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs and InP substrates. Despite the large lattice mismatch (≤ 7.2%) InxGa1-xAs layers showed excellent morphological and structural properties as determined by double crystal X-ray diffraction. Heteroepitaxially grown InAs and In0.53Ga0.47As layers exhibited pronounced maximum of Hali coefficient at temperaturę about ~60 K, which is characteristic of impurity-band transport. Additionally all InGaAs layers showed several anomalous behaviour like strong non-linear character in the magnetic field dependence of their Hali coefficients, non-quadratic weak magnetic field dependence of magnetoresistance, and the temperature dependence of their electron mobility. These are attributed to inhomogeneous distribution of misfit dislocation, and are interpreted in terms of two-layer model, one with bulk like and the other with strongly dislocated region at the heterointerface.

Pomierzono zjawisko Halla i magnetorezystancje w stopach InxGa1-xAs przy różnych wartościach x (x = 0, x=0,53 i x= 1) w polach magnetycznych do 1,5 T. Warstwy InGaAs były osadzane na podłożach z GaAs i InP w procesie MBE. Pomimo dużego niedopasowania sieciowego (≤ 7,2%) warstwy InxGa1-xAs wykazują dobrą strukturę, co wynika z badań XRD. Heteroepitaksjalne warstwy InAs i In0.53Ga0.47As wykazują się maksimum współczynnika Halla w temperaturze ~60 K charakterystyczną dla transportu przez pasmo domieszek. Ponadto warstwy InGaAs wykazują silnie nieliniowy charakter zależności współczynnika Halla od pola magnetycznego, niewielkie odchylenie od zależności kwadratowej magnetorezystancji od pola magnetycznego i zależność temperaturową ruchliwości elektronów. Przypisujemy to niehomogenicznemu rozkładowi dyslokacji niedopasowania i interpretujemy to w modelu dwuwarstwowym, składającym się z warstwy obszaru objętościowego i warstwy międzypowierzchniowej przy podłożu, silnie wzbogaconej dyslokacjami.

Metoda obliczania rozkładu temperatury łuku ściśniętego ściankami kanału wyładowczego mikroplazmotronu

Kruczinin A.M., Sawicki A.

Przegląd Elektrotechniczny

2004

R. 80, nr 11

1176-1179

W artykule opisano podstawowe właściwości łuku elektrycznego wysokiego ciśnienia w turbulentnym i laminarnym przepływach gazu. Na podstawie modelu łuku dwuwarstwowego określono rozkład strumieni cieplnych w kolumnie. Rozwiązano równanie energii łuku cylindrycznego. Obliczono rozkład temperatury w kolumnie łuku ściśniętej ściankami mikroplazmotronu. Oceniono dokładność danych, zawierających charakterystyki cieplnofizyczne powietrza, przez porównanie wyników obliczeń z pomierzonymi rozkładami temperatury łuku.

The basic properties of a high-pressure electrical arc within a turbulent and a laminar gas flows are described. The distribution of heat fluxes in the column is determined according to the two-layer arc model. The equation of the energy of a cylindrical arc is solved. The temperature distribution in the arc column contained in the plasma jet generator is obtained. The accuracy of the thermophysical characteristics of air is assessed by the comparison of the calculated results with the empirically measured distribution of the arc temperature.