Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mismatch effects

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metodologia projektowania wielokanałowych układów scalonych pod kątem minimalizacji efektów rozrzutu procesu technologicznego

Gryboś P.

Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki

2003

Vol. 23, nr 10

31-36

W artykule przedstawiono projekt wielokanałowego, specjalizowanego układu scalonego do odczytu paskowych detektorów krzemowych pod kątem minimalizacji efektów związanych z rozrzutem parametrów procesu technologicznego. Zwrócono szczególną uwagę na dobór odpowiedniej architektury układu oraz przeprowadzono serię symulacji pod kątem oceny wrażliwości układu na omawiane efekty

The design of multichannel ASIC for readout of silicon strip detectors taking into account variations of technological process parameters is presented. The choice of proper architecture of circuit is discoussed together with simulation results of circuit sensitivity to above effects.