Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskopia wysokorozdzielcza

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Opracowanie i wdrożenie nowoczesnych technik i metodyk prześwietleniowej mikroskopii elektronowej

Wojtas J., Wiedermann J., Maciosowski A.

Prace Instytutu Metalurgii Żelaza

2006

T. 58, nr 3

53-55

Przedstawiana praca ma charakter zarówno metodyczny obejmujący rozszerzenie metody badań nieniszczących, wdrożenie nowoczesnych metod opracowywania wyników badań, jak również obejmuje określenie aktualnych możliwości badawczych lMŻ w zakresie prześwietleniowej mikroskopii elektronowej. Opracowano i wdrożono metodykę badań stanu wydzieleń za pomocą podwójnych replik matrycowych (węglowych), wdrożono program komputerowy do rozwiązywania dyfrakcji elektronowych, wyznaczono aktualną zdolność rozdzielczą mikroskopu JEM 2000FX i określono możliwości wykonywania badań w zakresie mikroskopii wysokorozdzielczej.

This paper deals with incestigation, methodology that includes the expansion of non-destructive testing method and implementation, of modern methods for analysis and elaboration of test results. In addition, it includes determination of the current research abilities of the Institute for Ferrous Metallurgy in the field of transmission electron microscopy. Methodology for investigation of degree of'precipitations using double matrix (carbon) replicas was developed and implemented, computer program for indexing of electron diffractions was implemented, the resolution of JEM 2000FX microscope was determined, and the abilities to perform high-resolution microscopy investigation were determined.

On nanometric anisotropy and macroscopic aspects: methods of observation and application to clays

Jouffrey B., Laribi S.

Inżynieria Materiałowa

2004

R. XXV, nr 3

218-220

High Resolution Electron Microscopy (HREM) and Energy Loss Electron Microscopy (EELS) have been used to study the nanometric aspects of various species of clays: smectite, kaolinite and nacrite. The aim of this work is to explore clays at the nanometric scale, which has not been so much explored at this level until now, and to obtain information concerning in particular the local structure and chemistry. HREM results depend deeply from a clay to another one. But often, a strong anisotropy is observed at the submicron level. EELS permits to detect all the elements detected by classical chemistry at a macroscopic level. Beyond this elemental analysis, the edges show for instance, that the oxygen fine structure depends on the way clays have been treated. Anisotropy of Ca unoccupied orbitals has been also detected.

Badano nanometryczne aspekty różnych glin (smektytu, kaolinitu oraz nakrytu) z wykorzystaniem mikroskopii wysokorozdzielczej (HREM) a także spektroskopii strat energii elektronów (EELS). Celem badań było zbadanie tych materiałów w nanoobszarach dzięki temu uzyskanie informacji o lokalnej strukturze i chemii tych materiałów, które w tych aspektach nie były jeszcze zbadane. Wyniki badań uzyskane metodą mikroskopii wysokorozdzielczej zależały w bardzo dużym stopniu od rodzaju gliny. Często występowała silna anizotropia w obszarach o rozmiarach poniżej mikrometra. Spektroskopia strat energii elektronów (EELS) umożliwia wykrywanie wszystkich aspektów klasycznej chemii na poziomie makroskopowym. Oprócz typowej analizy chemicznej istotne informacje otrzymuje się na podstawie tzw. krawędzi absorpcji, z których wynika m.in., że subtelna struktura widma tlenu w glinie zależy od obróbki, jaką zastosowano do gliny. Udało się również wykryć anizotropię nieobsadzonych orbitali Ca.