PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Ograniczanie wyników
Czasopisma
1
Przegląd Mechaniczny
Autorzy
1
Bramowicz M.
1
Lipiński T.
1
Rychlik K.
1
Szabracki P.
Lata
1
2010
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 1
Liczba wyników na stronie
10
20
50
100
Strona
/ 1
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskopia sond skanujących
Sortuj według:
trafności
tytułu publikacji
daty malejąco
daty rosnąco
tytułu czasopisma
nazwiska pierwszego autora
Ogranicz wyniki do:
we wszystkich polach
w tytułach publikacji
w tytułach czasopism
w nazwiskach autorów
w słowach kluczowych
w cytowaniach
Strona
/ 1
1
Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach topografii powierzchni warstwy wierzchniej
Bramowicz M.
,
Lipiński T.
,
Szabracki P.
,
Rychlik K.
Przegląd Mechaniczny
|
2010
|
nr 11
45-50
Strona
/ 1
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.