W artykule przedstawiono wyniki obserwacji struktury górnej i dolnej ścianki zbiornika paliwa oraz próbek pochodzących z jego recyklingu. Próbki uzyskane na drodze recyklingu mechanicznego wytworzono poprzez rozdrobnienie materiału zbiornika i ponowne uformowanie metodą wtryskiwania. Czynność tą powtórzono kilkukrotnie. Do obserwacji struktury wykorzystano trzy metody: skaningowej mikroskopii elektronowej SEM, mikroskopię sił atomowych AFM oraz mikroskopię konfokalną. Celem badań było określenie wpływu długotrwałego kontaktu tworzywa z paliwem oraz procesu wielokrotnego przetwórstwa na strukturę badanych próbek pobranych ze zbiornika paliwa i wytworzonych w procesie recyklingu.
EN
The results of the structure of the upper and lower wall of the fuel tank and samples from its recycling have been presented in this article. Samples were obtained by mechanical recycling formed by grinding of fuel tank material, than reprocessing by injection molding. This action was repeated several times. To observe the structure of obtained samples scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and confocal microscopy have been used. The aim of the study was to determine the effect of prolonged contact with the fuel material and the process of re-processing on to the structure of the investigated samples taken from the original fuel tank and manufactured in the recycling process.
W artykule przedstawiono charakterystyki cienkich warstw SnO2 na czystym szkle. Warstwy SnO2 nanoszone były metodą magnetronowego sputteringu (nanoszenie) na podłoże szklane w różnych temperaturach. Wykorzystano do tego urządzenie Magnetron Line 440. Do badania składu i morfologii warstwy użyto mikroskopii skaningowej i atomowej (STM/AFM). Na podstawie badań stwierdzono, że powłoki wykazują dobre połączenie z materiałem podłoża, charakteryzują się zróżnicowaną chropowatością i są jednorodnie chemiczne.
EN
Atomic force microscopy is one of the most popular method used in surface imaging. This method allows to measure the surface topography and determine the dimensions of the structures in the subatomic resolution [1]. Due to its properties, it can be applied to the measurement of conductors and semiconductor surfaces prepared in various processes. The experiment is fo-cused on SnO2 and ITO thin layers which can be used as transparent electrodes [2]. The authors are trying to illustrate the correlation between process parameters - creation of semiconductor in magnetron sputtering by different process conditions (temperature and cooling process, gas pressure and composition), surface of the sample and its other electrooptical parameters.
W pracy przedstawiono wyniki analizy wpływu rozdzielczości skanowania mikroskopu AFM na parametry geometryczne, charakterystyczne dla badanej wzorcowej powierzchni, oraz parametry statystyczne i fraktalne. W pracy opisano serię pomiarów topografii wzorca TGT1 (NT-MDT) przy różnej rozdzielczości skanowania w kontaktowym trybie pracy mikroskopu AFM. Wartości parametrów statystycznych: Sa, Sq, Sy, wyznaczone dla różnych rozdzielczości skanowania zgodnie z normą ISO 25178-6, porównano ze sobą oraz zestawiono z parametrami fraktalnymi: długością korelacji (rc), wymiarem fraktalnym (D) oraz topotezą powierzchni (K). Z przeprowadzonych pomiarów wynika, że w przypadku okresowego ukształtowania powierzchni krok pomiarowy (w analizowanym zakresie) nie wywiera istotnego wpływu na wartości parametrów geometrycznych, statystycznych oraz ocenę anizotropii powierzchni. Jego wartość, jak i gęstość skanowania są istotne w analizie fraktalnej przeprowadzanej metodą funkcji struktury S(t). Wynika to ze wzrastającej wraz z rozdzielczością liczby punktów mieszczących się w liniowym zakresie krzywej S(t) wyznaczającym obszar samopodobieństwa badanej powierzchni.
EN
The effect of the scanning resolution on the geometrical, statistical and fractal parameters extracted from the AFM images of the reference sample of a well-known shape is analyzed in the paper. A series of measurements was carried out in the contact mode on the TGT1 calibration grating supplied by NT-MDT. The statistical parameters Sa, Sq, Sy were estimated (according to norm ISO 25178-6) and compared to the images with different scan resolution, and then the numerical procedure was applied to extract fractal parameters such as: the correlation length (rc), fractal dimension (D) and topothesy (K) from the AFM images of different lateral resolution. The obtained results suggest that for isotropic surfaces neither geometrical features, statistical features nor the anisotropy ratio is significantly affected by the scan step. On the other hand, the scan step and the scan resolution are important when the images are analyzed on the grounds of fractal geometry using the structure function S(t). This is mainly due to the fact that with an increasing scan resolution, the number of points in the linear range of the structure function increases as well, and only within this range does the surface reveal self-affine properties.
4
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Purpose: of this paper: The major aim of this paper was describing technical conditions of thermal evaporation method of organic thin film used as active layers for photovoltaic cells. Design/methodology/approach: The organic thin films have been obtained by thermal evaporation process from two sources. The two sources technique alleged to using the mixtures of two kinds of materials on deposited substrate and created the bulk p-n junction. By steering the source temperature the deposited rate of substrates has been changed which has led to changes in the share component in the layer. Findings: The obtained results describe the influence of evaporation process from two sources on optical properties and surface morphology of thin films which consist molecular materials - perylene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride (PTCDA) and metal phthalocyanines (NiPc, TiOPc) blends. Research limitations/implications: The morphology and optical properties of thin films films made of organic materials MePc:PTCDA were described. This paper include also influence of physical vapor deposition process conditions on properties of thin films. Practical implications: The obtained results allowed to create the bulk p-n junction. The MePc:PTCDA thin films can be used in photovoltaic applications. Originality/value: The value of this paper is defining the optimal parameters of thermal evaporation from two sources for preparing MePc:PTCDA thin film with the best properties for photovoltaic applications. This paper describes the use of molecular materials for PVD technology. Results of these researches allowed to develop the technology of bulk heterojunction of molecular materials.
5
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
The aim of this paper is to show technical and chemical parameters influence on optical properties and morphology of poly (1,4-phenylenemethylenenitrilo- 1,4-phenylenenitrilomethylene) (PPI) thin films prepared by spin-coating method
6
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Purpose: The major aim of this paper was describing technical conditions of polymer thin film deposition by spin-coating techniques. Design/methodology/approach: Thin films of about nanometres thickness were prepared by spin-coating and their properties were studied. As a material for preparing polymer thin films oxad-Si was used. The thin films were deposited with various spinning velocity from solution of different concentration. Thin films were deposited on BK7 glass and quartz substrates. Findings: The obtained results describe influence of the solution concentration and spinning velocity on morphology and optical properties of spin-coated oxad-Si thin films. Research limitations/implications: The obtained results confirm the oxad-Si availability for optoelectronic application to be stipulated. Practical implications: The morphology and optical properties of Oxad-Si polymer thin films were described. This paper include also description of the influence of deposition conditions on properties of polymer thin films. Originality/value: The value of this paper is defining the optimal parameters of spin-coating technology for preparing oxad-Si thin film with the best properties for optoelectronics appliances. This paper describes new experimental polymeric material for spin coating technology. Results of these researches enable to develop the spin-coating technology.
7
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Purpose: The aim of this paper is to show influence of technological parameters (temperature and gas stream intensity) of low-temperature chemical vapour deposition (LCVD) on optical properties and morphology of polyazomethine thin films. Design/methodology/approach: Thin layers of poly (1,4-phenylene-methylenenitrilo-1,4-phenylenenitrilo-methylene) (PPI) were prepared by low temperature LCVD method with use of argon as a transport agent. The UV-Vis spectroscopy and AFM microscopy measurements on PPI thin films were performed. Findings: The LCVD parameters, like temperature and argon stream intensity, influence growth rate, morphology and optical properties of polyazomethine thin films. Optimalization of technical parameters allows for thin films with desired properties to be prepared. Research limitations/implications: Optimalization of technical LCVD parameters leads to preparing PPI thin films having desired morphology and optical properties suitable for optoelectronic applications. Practical implications: PPI polyazomethine is good material for potential applications as the active layer in optoelectronic or photonic structure (diods or photovoltaic cells). Originality/value: LCVD with use of argon is relatively new method for preparing of thin polymer films. Recognizing of optimal technical parameters will make possible getting of thin films with required properties.
8
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
The paper presents the problem of the influence of the structure of oxide layers obtained in an electrolytic process on tribological cooperation with constructional materials. Microhardness and abrasion resistance of oxide layers obtained on aluminium alloys by means of hard anodizing depend mainly on their porosity, morphology, surface roughness and layers' thickness. Utilitarian properties of alumina can be controlled to a rarge degree by changing the current and temperature conditions of the process as well as the composition of electrolyte or of the aluminium substrate. A porous oxide layer characterizes with a columnar structure with numerous micro-, macro- and nanopores formed at the contact point of Al203 fibres. Numerous structural and morphological studies conducted by AFM (atom-force microscopy) and SEM (scanning electron microscopy) have shown that it is possible to effectively control the number and size of alumina as well as micro- and nanopores. Any changes in the structure translate directly into changes of nanoroughness and porosity of the obtained oxide layers. Micro- and macropores on surfaces can be used as lubrication dispensers at sliding cooperation with modern constructional materials, e.g. TG15 or PEEK/BC. Tribological investigations have shown a dependence of wear intensity and friction factor of the couple: anodic oxide layer/plastic, on the internal structure of the cooperating triboelements.
PL
W pracy omówiono zagadnienie wpływu budowy warstw tlenkowych uzyskiwanych metodą elektrolityczną na procesy współpracy tribologicznej z tworzywami konstrukcyjnymi. Twardość i odporność na ścieranie warstw tlenkowych wytwarzanych na stopach aluminium metodą anodowania twardego zależą od ich porowatości, morfologii i chropowatości powierzchni oraz głębokości tych warstw. Właściwości użytkowe warstw tlenku glinu można kształtować w szerokim zakresie przez zmianę warunków prądowych i temperaturowych procesu anodowania oraz składu chemicznego elektrolitu i podłoża. Porowata warstwa tlenkowa odznacza się kolumnową mikrostrukturą z licznymi mikro-, makro- i nanoporami powstającymi na styku włókien AI2O3. Przeprowadzone badania mikrostruktury z użyciem mikroskopii sił atomowych AFM oraz elektronowej mikroskopii skaningowej SEM wykazały, że można skutecznie kształtować objętość względną i wymiary włókien tlenku glinu oraz mikro- i nanopor. Zmiany morfologiczne mikrostruktury oddziaływają bezpośrednio na zmiany nanochropowatości oraz porowatości uzyskiwanych warstw tlenkowych. Mikro- i makropory na powierzchni mogą pełnić funkcję zasobników smarnych przy współpracy ślizgowej z nowoczesnymi tworzywami konstrukcyjnymi, na przykład TC15 czy PEEK/BC. Badania tribologiczne wykazały zależność intensywności zużywania oraz współczynnika tarcia pary: anodowa warstwa tlenkowa - tworzywo sztuczne od struktury wewnętrznej współpracujących triboelementów.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.