Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskop skaningowy (SEM)

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Whisker Formation On Galvanic Tin Surface Layer

Radanyi A. L., Sycheva A., Gacsi Z.

Archives of Metallurgy and Materials

2015

Vol. 60, iss. 2B

1341--1345

The present work reports the effect of substrate composition, thickness of the tin electroplate and its morphology on pressure-induced tin whisker formation. Pure tin deposits of different thickness were obtained on a copper and brass substrates using methane sulfonic industrial bath. The deposits were compressed by a steel bearing ball forming imprint on the surface. The microstructure of tin whiskers obtained at the boundary of each imprint, their length and number were studied using both light and scanning electron microscopy. It was shown that the most intensive formation and growth of whiskers was observed in the first two hours. In general, brass substrate was shown to be more prone to whisker formation than copper independently of the tin coating thickness. The results have been compared with industrial bright tin finish on control unit socket leads and proposals have been made as to modification of the production process in order to minimize the risk of whiskering.

Mikrostruktura nanostrukturalnych powłok węglikowych natryskanych naddźwiękowo

Żórawski W., Burakowski T.

Inżynieria Materiałowa

2008

Vol. 29, nr 6

608-610

Nanostrukturalna cermetalowa powłoka została natryskana naddźwiękowo (HVOF) z aglomerowanego nanostrukturalnego proszku WC12Co. Ziarna nanostrukturalnego proszku były analizowane za pomocą mikroskopu skaningowego (SEM) i mikroskopu transmisyjnego (TEM). Pokazały one, że ziarna proszku składają się z nanoczastek. Natryskana nanostrukturalna powłoka została zbadana za pomocą mikroskopu skaningowego oraz dyfraktometru. Badania natryskanej nanostrukturalnej powłoki przeprowadzono przy pomocy SEM i dyfraktometru (XRD). Charakteryzowała się ona większą gęstością w porównaniu z powłoką natryskaną z proszku konwencjonalnego i zawierała również niewielką ilość fazy W2C WC1-x i W.

Nanostructured cermet coating was sprayed from agglomerated nanostructured WC12Co powder feedstock by means of hypersonic spray process (HVOF). Grains of tungsten carbide nanopowder were analyzed by scanning electron microscope (SEM) and transmission electron microscope (TEM). Investigations revealed that grains of powder consist of nanoparticles. Nanostructured sprayed coating was observed by SEM analysis and investigated X-ray diffractrometer (XRD). A denser coating structure as compared to conventional coating with small amount of W2C WC1-x and W phase was observed.

Influence of Laser Shock Peening on Topography of Ti-6Al-2Cr-2Mo Titanium Alloy Surface Layer

Napadłek W., Sarzyński A.

Inżynieria Materiałowa

2007

Vol. 28, nr 3-4

707-711

The results of theoretical and experimental works concerning laser shock processing of Ti-6Al-2Cr-2Mo titanium alloy are described in the paper. The results of numerical simulation of shock wave generated by strong laser radiation are presented. The effects of modification of surface layer properties of WT3-1 titanium alloy are described. The Nd:YAG laser pulse with energy of 0,5 J and 10ns duration was used in experiments. Investigations of modified surface included observation by scanning microscope (SEM) and topography analysis by profilograph.

W pracy opisano wyniki prac teoretycznych i eksperymentalnych, dotyczących umacniania warstwy wierzchniej stopu tytanu Ti-6Al-2Cr-2Mo falą uderzeniową generowaną impulsem laserowym dużej mocy. Opisano wyniki numerycznego modelowania impulsu ciśnienia generowanego przez impuls laserowy oraz propagacji fali uderzeniowej. Przedstawiono wyniki modyfikacji właściwości warstwy wierzchniej stopu tytanu WT3-1. Stosowano laser Nd: YAG o energii impulsu około 0,5 J i czasie trwania 10 ns. Badania modyfikowanej powierzchni obejmowały obserwacje za pomocą mikroskopu skaningowego (SEM) oraz analizę topografii powierzchni przy użyciu profilografometru.