Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskop sił magnetycznych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

The study of magnetic domain development in shielding films using MFM technique

Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

R. 89, nr 8

208--210

In the article we’ve described results of the research aimed on recognition magnetic domain structures of thin magnetic film that can be used as a shield. By correlating magnetic domain structures with macroscopic properties of the film, we can implement a new approach, where the large group of small samples is used to select limited group of large samples in order to perform final tests and select the solution suitable for mass production.

W artykule zostały opisane wyniki badań mających na celu wskazanie możliwości zastosowania mikroskopii sił magnetycznych w opisywaniu cienkich warstw magnetycznych, stosowanych w ekranowaniu pola elektromagnetycznego.

Ocena korelacji pomiędzy grubością a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NIFe

Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W.

Prace Instytutu Elektrotechniki

2012

Z. 259

83--84

Cienkie warstwy NiFe są powszechnie wykorzystywane jako magnetyczne nośniki danych oraz czujniki. Szczególnie znany jest stop Ni83Fe17. Jedną z najpowszechniej wykorzystywanych metod otrzymywania cienkich warstw magnetycznych jest rozpylanie magnetronowe. Fizyczne i elektryczne właściwości cienkich warstw silnie zależą od wielu czynników, takich jak struktura krystalograficzna, orientacja, skład oraz rodzaj podłoża na którym warstwa została osadzona. Ponadto, w przypadku warstw magnetycznych, ich właściwości magnetyczne są określane poprzez magnetyczną strukturę domenową. W artykule przedstawiono wyniki badań mających na celu poznanie korelacji pomiędzy grubością, a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NiFe. W celu uzyskania ilościowego opisu uzyskanych wyników, z powodzeniem zastosowano algorytmy przeznaczone do analizy parametrów topografii.

NiFe alloy thin films are commonly used in the area of memory devices for computers, magnetic recording media, sensor industry and microelectromechanical systems. In particular, Permalloy (Ni83Fe17) is well known group of thin films, because of its high magnetic saturation, low coercivity and low magnetization. One of the methods of providing high quality soft magnetic thin films is magnetron sputtering. Physical and electrical properties of thin films strongly depend on many parameters such as crystallographic structure, orientation, composition or the type of substrate. In addition, in the case of magnetic layers, their magnetic properties are determined by obtaining domain structure. In the article we’ve described results of the research aimed on recognition of correlation of film thickness and magnetic domain structures. In order to obtain quantitative description of obtained results, we’ve successfully applied algorithms designed for topography parameters determination.