PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Postępy Fizyki
Autorzy help
  1. 1 Aleszkiewicz M.
Lata help
  1. 1 1998
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mikroskop optyczny skaningowy bliskiego pola
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Skaningowy mikroskop optyczny bliskiego pola
Aleszkiewicz M.
Postępy Fizyki
|
1998
|
T. 49, z. 5
274-282
EN
A scanning near-field optical microscope (SNOM) is based upon the interaction between light waves and matter on subwavelenght scale and enables to overcome the classical Rayleigh's resolution limit. An optical probe acts as a converter of near field, containing information on tiny (of nanometer size) details of the investigated object, into easily measurable far field. This overview article reports the basic knowledge on this new kind of probe microscopy. Some principles, history, various most common designs and a list of important improvements and applications are given. \\eng\
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.