Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mikroskop elektronowy prześwietleniowy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Joining of SiC and Si3N4 to molybdenum was carried out using Ag-Cu-In brazing alloy containing Ti as an active addition. In the present investigation a novel approach to the examination of ceramic-metal interfaces by means of cross-sectional transmission electron microscopy (XTEM) is described. The identification of the reaction products in an active zone of the joints was done and the detailed structure of multiphase interfacial region is presented. XTEM investigations were performed using Jeol microscopes; JEM 100B and JEM 3010, equipped with energy dispersive spectrometer (EDS). TEM samples were prepared by mechanical dimpling and ion beam thinning of real cross-sections of joints.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.