Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskop elektronowy Inspekt F

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Using EBSD method to determination of microstructural internal state variable in hot deformed single phase metallic alloy

Kuc D., Radwański K., Niewielski G.

Inżynieria Materiałowa

2008

Vol. 29, nr 4

250-253

The presented paper concerning on utilization of orientation maps work out with EBSD (electron backscatter diffraction) method to determining of microstructural internal variables in hot deformed materials. Base on obtaining maps enables extensive information on the material's crystallographic structure, concerning inter alia grain size, its orientation, shape, type of grain boundary, the size of misorientation angles, their distribution and texture. The misorientation maps were made on samples in initial state, after anneallig and hot plastic deformation. An axial-symmetric compression test was carried out using a Gleeble 3800 simulator at a temperature from 800°C to 1100°C and at a strain rate from 0.1 s"1. The research was made with use of high resolution scanning microscope Inspekt F equipped with an EBSD detector. The obtained research will be used for the development of mathematical models determining the influence of deformation parameters on the alloy structure.

Prezentowana praca dotyczy wykorzystania metody wyznaczania map orientacji na mikroskopie skaningowym metodą EBDS (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych) do wyznaczenia strukturalnych zmiennych wewnętrznych odkształcanych na gorąco stopów metali. Na podstawie uzyskanych obrazów uzyskuje się dane o rozkładzie wielkości ziarna, rozkładzie wielkości kątów dezorientacji ziaren oraz teksturze. Mapy orientacji wykonano na próbkach w stanie wyjściowym po wygrzewaniu i odkształceniu plastycznym. Materiał badawczy stanowiła stal austenityczna typu X3CrNil8-9. Próbę osiowosymetrycznego ściskania wykonano na symulatorze Gleeble 3800 w temperaturze od 800°C do 1100°C i przy prędkości odkształcenia od 0.1 s"1. Badania przeprowadzono na wysokorozdzielczym, skaningowym mikroskopie elektronowym Inspekt F, wyposażonym w detektor EBDS. Wykonane badania dostarczają istotnych danych o ilościowych zmianach zachodzących w strukturze odkształcanych na gorąco stopów. Wyniki badań będą wykorzystane do opracowywanych modeli fizycznych i matematycznych zmian struktury podczas odkształcenia plastycznego na gorąco.