Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikrooptyka

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Hot embossing method for development of soft glass microoptic components with broadband infrared transmission

Kasztelaniec R., Buczyński R., Cimek J., Kujawa I., Stępień R., Kozłowska A., Maląg A., Waddie A. J., Taghizadeh M. R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2014

Vol. 55, nr 11

108-110

We describe the application of the hot embossing process to fabricate micro-optical elements using soft glasses with enhanced tramsmission in mid infrared. The fabricated elements are both refractive lenses and diffractive elements) that can be used in the visible to mid-infrared range 0.5…5 μm.

W artykule przedstawiono zastosowanie metody odciskania na gorąco do wytwarzania elementów mikrooptycznych ze szkieł tlenkowych wieloskładnikowych o wysokiej transmitancji w zakresie średniej podczerwieni. Metoda została użyta do wytworzenia elementów refrakcyjnych oraz dyfrakcyjnych przeznaczonych do zastosowań w zakresie szerokopasmowym od 0,5 do 5 μm.

Próby wytwarzania soczewek Fresnela metodą wytłaczania na gorąco w szkłach tlenkowych dedykowanych na zakres od 400 do 8000 nm

Kujawa I., Kasztelanic R., Waluk P., Stępień R., Haraśny K., Pysz D., Buczyński R.

Materiały Elektroniczne

2012

T. 40, nr 4

10-18

Głównym celem pracy było zbadanie możliwości wykonywania szklanych, niedrogich w produkcji elementów mikrooptycznych do pracy w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni. Masowa produkcja takich elementów odbywa się przy wykorzystaniu metody wytłaczania na gorąco (hot embossing) dotyczy jednak głównie elementów polimerowych. Te z kolei jako materiały organiczne nie mogą być wykorzystywane we wszystkich zastosowaniach. W artykule przedstawiono wyniki prac zrealizowanych dla szeregu szkieł tlenkowych charakteryzujących się wysoką transmitancją w zakresie od światła widzialnego do średniej podczerwieni. Jako stempla użyto płytkę ze szkła kwarcowego o reliefie wykonanym standardowymi metodami trawienia jonowego. Do odwzorowywania zastosowano statyczny proces wytłaczania z zastosowaniem niewielkich sił nacisku. Jakość uzyskanych elementów zbadano przy pomocy interferometru światła białego oraz pomiarów ogniskowania.

The aim of this work was to examine the possibility of manufacturing low-cost glass diffractive optical elements that work in near and mid-infrared. The paper focuses on the results of the fabrication of Fresnel lenses from multi-component glasses in a hot embossing process. In the experiment lead-bismuth-gallium oxide and tellurite glasses characterized by high transmittance in the range of visible light spectrum to mid-infrared were applied. A fused silica element obtained by standard ion etching was used as the mold. The presented elements were fabricated in a static process with the use of low pressure. The quality of the outcome elements was examined employing white light interferometry as well as performing focusing measurements.

SMARTIEHS : interferencyjne stanowisko do równoległych pomiarów MEMS i MOEMS

Gastinger K., Kujawińska M., Zeitner U. D., Michael S., Gorecki C.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 6

159-161

W artykule przedstawiono nową koncepcję systemów pomiarowych do charakteryzacji urządzeń MEMS i MOEMS rozwijaną w ramach projektu finansowanego przez Unię Europejską pod tytułem "SMART InspEction system for High Speed and multifunctional testing of MEMS and MOEMS" (SMARTIEHS). Celem projektu jest specjalna kompaktowa konstrukcja wielozadaniowego stanowiska interferometrycznego pozwalającego na bezdotykowe i szybkie wykonywanie pomiarów na badanych obiektach dzięki multiplikacji optycznych kanałów głowic pomiarowych. W projekcie rozwijane są dwa typy głowic pomiarowych. Pierwsza z nich bazuje na konstrukcji interferometru Mireau, a zasadę działania opiera na interferencji światła z obniżonym stopniem koherencji czasowej. Druga głowica jest interferometrem laserowym w konfiguracji Twymana-Greena zbudowany ze specjalnie zamodelowanych struktur dyfrakcyjnych.

Below we present the new approach towards microsystems characterization at wafer level developed under EU project "SMART InspEction system for High Speed and multifunctional testing of MEMS and MOEMS" (SMARTIEHS). The goal of the project is to provide fast, cost effective and flexible optical inspection system. Two different interferometer approaches are pursued in the project's development process: a refractive optics based Mireau type Iow coherence interferometer and a diffractive optics based Twyman-Green laser interferometer. Below we present the design and the tests of the interferometr Twyman-Green. The multifunctional approach of the laser interferometer measurement concept allows within one instrument to inspect MEMS shape and deformation as well as to characterize a spatial distribution of out-of-plain amplitude of vibration at a resonance frequency. The interferometer architecture require custom designed diffractive optical elements.