Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mikrometr laserowy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The quality specifications for products such as wire rods produced by the steel industry are becoming ever more demanding. This demand has led to achieve uniform product quality at high production speeds. As a result, there is a need for the systems that operate in real time and continuously measure cross-section profile of the rods and detect if any change or deviation from the desired behaviour in their cross-section. To reach this goal, a laser-based computer-controlled technology provides a useful solution. In this paper, a high speed, low cost and high accuracy non-contact laser-based measuring system has been proposed and developed using a STM32 microcontroller. The system can measure the thickness of solid, non-transparent wire rods using the linear charged-coupled sensor and sent to a microcontroller unit to further analyse and continuously display the cross-sectional profile in real time. Any deviation in the dimension over the length of the wire along with its position with respect to starting of the wire can be detected in real time. The designed and developed system has capability of measurement accuracies and respectabilities to the micrometre level.
PL
Przedstawiona analiza wybranych parametrów metrologicznych mikrometrów laserowych stanowi wstęp do dalszych artykułów omawiających zasadę optycznych pomiarów bezdotykowych. Na podstawie pomiarów kontrolnych wybranego mikrometru laserowego omówiono możliwości pomiarowe tych urządzeń oraz wskazano na ograniczenia w zakresie zmniejszania niepewności pomiaru. Pokazano występującą często niezgodność między podawanymi przez producentów rozdzielczościami a rzeczywistymi parametrami.
EN
This analysis of selected properties of metrological laser micrometers is an introduction to further articles in which principles of optical touchless measuring would be discussed. Basing on control measuring of a selected laser micrometer, measuring possibilities of these units have been discussed, also some restrictions concerning limitation of uncertainty of measuring have been indicated. Frequently appearing discrepancy between resolutions, presented by the producers, and real capabilities have been shown.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.