Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: microwave resistivity measurements

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania konduktywności zespolonej nanowarstw

Krupka J., Mączeński Z., Baszun M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 9

18-21

Badanie przewodnictwa bardzo cienkich warstw przewodzących (nanowarstw), niezbędne dla określenia zarówno ich właściwości aplikacyjnych, jak i dla poznania mechanizmów fizycznych decydujących o tej przewodności, wymaga podejścia odmiennego od metodyki badania konduktywności materiałów litych. Przedstawiono podstawowe trudności związane z badaniem konduktywności nanowarstw zarówno dla pomiarów DC, jak i w paśmie mikrofalowym. Przedstawiono rozwiązania sond pomiarowych do kontaktowego i bezkontaktowego pomiaru konduktywności oraz wyniki takich pomiarów dla wybranych nanowarstw. Stwierdzono zmienność konduktywności z częstotliwością co wiąże się z nieciągłością warstw i poprzez wpływ lokalnych pojemności, nadaje konduktywności charakter wielkości zespolonej.

Investigation of the conductivity of very thin conductive layers (nanolayers), crucial for their applications and for analyzing the physical phenomena of their conductivity calls for quite a different approach than in the case of bulk materials. The main difficulties associated with these investigations for DC as well as for microwave frequency measurements have been presented. Methods and probes for contact and contact-less measurements and measurement results of selected nanolayers have been described. The dependence of conductivity vs. frequency was observed, most probably due to the local non-continuity of layers. Discontinuities, through the influence of local capacitances cause the conductivity to become a complex value.