PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  microscope thermography
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Application of microscope thermography in testing temperature distribution in a semiconductor laser
Rybinski J., Bednarek M., Wisniewski P., Swietlik T.
Optica Applicata
|
2010
|
Vol. 40, nr 3
609--614
EN
Microscope thermography with the use of thermovision camera with spatial resolution 8 žm was applied in testing temperature distribution in semiconductor lasers produced on the basis of nitrides. The conducted tests have shown that the microscope thermography has a potential in characterizing microelectronic devices like semiconductor laser diodes and can be considered as a complementary tool in establishing thermal characteristics of these devices.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.