Tematyka artykułu dotyczy analizy metrologicznej wyników pomiarów i obliczeń związanych z opracowaną wcześniej oryginalną metodą oceny wpływu zewnętrznych pól zakłócających na wyniki obrazowania metodą skaningowej mikroskopii elektronowej. Oszacowanie niepewności poszukiwanej wartości indukcji pola magnetycznego (na podstawie danych empirycznych i zależności analitycznych) daje możliwość oceny poprawności przyjętej metodyki badań oraz wpływu poszczególnych czynników (wielkości) na precyzję uzyskanych wyników.
EN
The paper concerns the metrological analysis of measurements and calculations associated with previously developed an original method of assessing the impact of the external interference fields on the results of imaging by scanning electron microscopy. The uncertainty estimation of calculated value of magnetic induction (based on empirical data and analytical dependencies) gives the opportunity to evaluate the accuracy of the research methodology and the impact of various factors (quantities) on the precision of obtained results.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.