Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  microcontroller DSP
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Badania odporności na zaburzenia w postaci serii szybkich elektrycznych stanów przejściowych, przeprowadzono na podstawie normy PN-EN 61000-4-4, na zestawie demonstracyjnym mikrokontrolera MP56F8025 z interfejsem EIA232. Zaburzenia elektryczne spowodowały chwilową utratę funkcjonalności układu oraz błędy w transmisji danych, które ustąpiły po zakończeniu ich generacji. Ograniczenie tego wpływu jest możliwe poprzez zmianę konfiguracji układów peryferyjnych mikrokontrolera i pozwala na normalne działania układu.
EN
Electrical fast transient / burst immunity test was based on the standard IEC 61000-4-4 on demo board of MP56F8025 microcontroller with serial communication interface compatible with EIA232 standard. Electrical disturbances caused temporary lose of functionality of the printed circuit board and errors in transmission of data, which subsided after termination of its generation. Reduction of this influence is possible by proper configuration of peripheral circuits of microcontroller and enables normal operation of the device.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.