PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  microbolometer detector
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Zobrazowanie obiektów w zakresie dalekiej podczerwieni z uwzględnieniem stanu polaryzacji promieniowania
Bieszczad G., Gogler S., Sosnowski T., Krupiński M.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 10
47-49
PL
W artykule omówiono współczesne zastosowania polarymetrii obrazowej w zakresach spektrum od widzialnego do dalekiej podczerwieni. Przedstawiono przeprowadzone analizy i badania możliwości zastosowania polarymetrii obrazowej w zakresie dalekiej podczerwieni do zdalnego wykrywania obiektów. Przedstawiono stanowisko pomiarowe do badania stanu polaryzacji promieniowania LWIR z zastosowaniem kamery termowizyjnej z polaryzatorem.
EN
The article discusses the use of modern imaging polarimetry in the visible range of the spectrum to the far infrared. The paper presents the analyzes and examining the potential for imaging polarimetry in the far infrared for remote sensing applications.
2
Content available remote Metoda wyznaczania czułości napięciowej detektorów podczerwieni z uwzględnieniem właściwości układu optycznego
Gogler S., Bieszczad G., Krupiński M., Zarzycka A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 10
65-68
PL
W artykule opisano metodę wyznaczania czułości detektorów podczerwieni w matrycy mikrobolometrycznej. W metodzie uwzględniono parametry geometryczne i optyczne matrycy detektorów podczerwieni oraz układu pomiarowego do wyznaczania czułości detektorów podczerwieni. Zastosowana metoda pozwala na wyznaczenie czułości napięciowej w układach pomiarowych współpracujących z układami optycznymi o dużych kątach aperturowych, gdzie zależność „cos4(θ)” nie jest dość dobrym przybliżeniem.
EN
In the article a method of determination of a microbolometric focal plane array voltage sensitivity has been described. In the method optical system illumination non-uniformity has been taken into account. Presented method allows for sensitivity determination in setups with low fnumber optics, where “cos4(θ)” is no longer a valid approximation.
3
Content available remote Shutterless method for gain nonuniformity correction of microbolometer detectors
Olbrycht R., Więcek B. B., Świątczak T.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 11a
120-122
EN
In this paper the new method of gain non-uniformity correction of microbolometer detectors is presented. The principle of this method is based on using an additional source of infrared radiation, which provides the excitation to the detector in parallel with the radiation of observed scene. The response of the detector to the excitation is calculated using frequency analysis, and it contains the information about the detector’s gain non-uniformity. This method enables a thermal camera to perform a live gain correction without using a shutter.
PL
W artykule została zaprezentowania nowa metoda korekcji niejednorodności wzmocnienia detektorów mikrobolometrycznych stosowanych w kamerach termowizyjnych. Metoda bazuje na wykorzystaniu promiennika podczerwieni jako źródła dodatkowego promieniowania podczerwonego. Analiza częstotliwościowa odpowiedzi detektora pozwala otrzymać informację o niejednorodności wzmocnienia.
4
Content available Korekcja dryftu temperaturowego detektorów mikrobolometrycznych
Olbrycht R., Więcek B.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2009
|
R. 55, nr 11
89-893
PL
W pracy przedstawiono nową metodę wyznaczania dryftu temperaturowe-go (ang. offset) mikrobolometrycznych kamer termowizyjnych bez ko-nieczności stosowania migawki, która przesłania obserwowaną scenę. Zamiast migawki zastosowano półprzezroczystą przysłonę, która zmienia poziom energii docierającej do detektora. Metoda zakłada, że w czasie korekcji dryftu temperaturowego kamera "patrzy" na nieruchomy obiekt.
EN
In this paper a new method of temperature drift compensation of microbolometer detectors is presented. Thermal cameras with such detectors are commonly used thanks to relatively low price, small dimensions and no requirement for cooling the detector. Regardless of the microbolometer type, there is a problem of detector temperature drift which is non-uniform over the detector surface. The problem is a result of very high thermal sensitivity of the microbolometer structure which is susceptible to heat coming from surrounding electronics. The most commonly used approach to deal with the problem of temperature drift is use of a mechanical shutter which periodically blocks the observation of scene for the time necessary to perform the correction. The principle of the presented method is based on using an aperture introduced periodically between the detector and the observed scene instead of the shutter. The detector response to the scene radiation with and without the aperture is recorded. Using equation (4), one can calculate the real amount of scene radiation, irrespective of the offset value introduced by the microbolometer temperature drift (equation (5)). This method enables a thermal camera to perform a live offset correction without using a shutter and without interruption of scene observation. Besides of theoretical information about the new method, chosen quantitative results of experiments realized at the Institute of Electronics, Technical University of Lodz are given (Figs. 4 and 5).
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.