Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Logistyka

1 2014

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metrology software

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Komputerowe wspomaganie analizy technologicznej warstwy wierzchniej (TWW) i eksploatacyjnej warstwy wierzchniej (EWW)

Niemczewska M., Wójcik A.

Logistyka

2014

nr 6

7797--7805

W pracy przedstawiono zagadnienia związane z badaniem oraz analizą technologicznej (otrzymanej w wyniku zabiegów obróbkowych) oraz eksploatacyjnej (wywołanej eksploatacją obiektu technicznego) warstwy wierzchniej. Zaprezentowano i krótko omówiono różne metody i urządzenia pomiarowe. Możliwości wykorzystania tych urządzeń w badaniach stanu warstwy wierzchniej (struktury geometrycznej powierzchni) zarówno technologicznej (TWW) jak też eksploatacyjnej (EWW) pokazują wybrane (przykładowe) wyniki badań, które otrzymano dzięki specjalistycznemu oprogramowaniu metrologicznemu.

The paper presents issues related to the study and analysis of the technological surface layer (obtained as a result of the machining process) and the operational surface layer (caused by the operation of a technical object. In the paper, various techniques used for the measuring of the surface geometric structure were presented and briefly discussed. The possibilities of applying these devices to the studies of the surface layer (surface geometric structure), both technological (TWW) and operational (EWW), are illustrated with sample study results obtained by means of sophisticated metrology software.