Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metrological reliability

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Increasing metrological autonomy of in-plant measuring systems

Mykyychuk M., Kochan R., Kochan O., Jun S., Stadnyk B., Stolyarchuk P.

Advances in Science and Technology. Research Journal

2016

Vol. 10, nr 32

193--197

The authors offer to solve the problem of providing traceability of measurements by increasing metrological autonomy of in-plant measuring systems. The paper shows the expedience of increasing metrological autonomy by creating a “virtual” reference. There are analysed possible variants of implementation of the “virtual” reference, which will provide high metrological stability of measurements at insignificant additional expenses. The authors point out the necessity of creation of universal technical and programmatic means of mutual comparison for the in-plant measuring systems to increase the reliability of measurements in the conditions of metrological autonomy.

Możliwości zwiększania niezawodności metrologicznej przyrządów pomiarowych z zastosowaniem wzorców miar sterowanych kodowo oraz nowoczesnych technologii informacyjnych

Yatsuk W., Wesełucha Z.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 9

80-83

W ramach istniejących teorii niezawodności metrologicznej istotna jest informacja o intensywności degradacji metrologicznej wszystkich parametrów elementów dyskretnych. Międzynarodowy dokument normalizacyjny ISO 10012:2003 wymaga wprowadzania metod kontroli procesów i przyrządów pomiarowych. W celu zwiększania niezawodności metrologicznej inteligentnych cyfrowych przyrządów pomiarowych uzasadnione i celowe jest zastosowanie w ich konstrukcji metody różnicowej pomiaru wraz z korekcją błędów metodą inwersji komutacyjnej. W pracy opisano model matematyczny procesów korekcji wartości przypadkowego składnika błędu całego przyrządu pomiarowego. Określono warunki realizacji sprawdzania metrologicznego pomiarowych przyrządów cyfrowych w miejscu eksploatacji bez ich demontażu. Sformułowano wymagania dotyczące konstrukcyjno-technologicznej realizacji wzorców miar sterowanych kodowo.

Usually, the metrological intensity of all discrete used components is necessary for whole measuring device metrological reliability determination is analysed in this paper. Extrapolation of the metrological characteristic probable variation is another way for measurement units’ metrological reliability estimation. If it possible the measuring devices higher precision class is the sense of third way of the metrological reliability protection. A lot of experimental results elaboration is necessary for correct metrological reliability characteristics estimation by the both first ways. International standard ISO 10012:2003 recommended both measuring process and measuring device control methods introduction. The measuring devices errors polynomial model analysis is presented in this paper too. For the main additive and accidental parts of measuring units error correction by inverse commutating (flip-flop) method is proposed in this paper. The structural circuits with automatically correction both of the bias voltages and accidental inputs signals are proposed for decreasing of the additive constituent error. The differential measurement method with code control measure using is described in this paper too. The main requirements such as on-chip realization and some destabilization quantity influence corrections is discussed too. The metrological checking at measuring devices working conditions is proposed in this paper too.