Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metoda porównania ze wzorcem

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Comparisons of quantum phenomena based electrical quantities standards

Dudek E., Orzepowski M., Tatar A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 6

35-38

Dla wielu pomiarów w dziedzinie napięcia elektrycznego i rezystancji wymagana jest spójność pomiarowa do wzorców pierwotnych. Stanowiska pomiarowe, wykorzystujące wzorce najwyższego rzędu, umiejscowione są w Narodowych Instytutach Metrologicznych. Wzorce pierwotne napięcia elektrycznego stałego i rezystancji, bazujące na kwantowym efekcie Josephsona i kwantowym efekcie Halla, pozwalają odtwarzać jednostkę wyłącznie w oparciu o niezmienne stałe fizyczne. Wszystkie kwantowe wzorce pierwotne mają równy i najwyższy status w hierarchii wzorców, nie ma więc potrzeby przeprowadzania porównań w celu zapewnienia spójności pomiarowej, przeprowadza się je jednak dla udowodnienia poprawności przeniesienia jednostki na wzorce niższego rzędu. Artykuł przedstawia wyniki międzynarodowych dwustronnych porównań w dziedzinie napięcia i rezystancji, w których brało udział Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych Głównego Urzędu Miar.

Traceability to primary standards is required for many measurements in the field of electrical voltage and resistance. These measurement systems are operated in National Metrology Institutes (NMIs). Primary voltage and resistance standards are based on quantum phenomena. Reproduction of these units is linked with physical constants. Conventional values of constants are worldwide approved. Primary standards have equal, highest status in standards hierarchy, so there is no possibility to calibration of them versus more accurate representations of units. In principle, quantum standards do not need comparisons for traceability. In reality, comparisons are required to demonstrate that calibrations are really correct. This article presents international comparison system on field of voltage and resistance measurement. Key, supplementary and bilateral comparisons are characterized. Results of this particular comparisons, where Laboratory of Electrical Quantities in Central Office of Measures in Poland has participated, are presented.

Wykorzystanie zdjęć z aparatu cyfrowego do pomiaru obiektów naziemnych

Kowalczyk M.

Przegląd Geodezyjny

2002

R. 74, nr 1

6-8