Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  metoda Nelder-Meada
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
In this paper we report an on going research on applying evolutionary computation to the identification of technological parameters of MOS transistors (MOSFETs) using the current-voltage measurements. The identification consists in approximating the observed values of the current with the values generated by the transistor model. Values of parameters for which the smallest approximation error is observed are assumed to be the best estimations to the real values. The model is nonlinear and nondifferentiable, and the error function takes multiple local minima with respect to the parameter values. We apply a combination of an evolutionary algorithm together with the Nelder-Mead method to minimize the error function and we experimentally investigate the effectiveness of the proposed approach.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.