Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Archiwum Nauki o Materiałach

1 2003

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metoda CBED

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wyznaczanie parametrów sieci krystalicznej metodą dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów (CBED)

Gigla M., Pączkowski P., Kostka A., Prusik K., Morawiec H.

Archiwum Nauki o Materiałach

2003

T. 24, nr 2

113-127

Metoda dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów została zastosowana do wyznaczania parametrów sieci krystalicznej. Dzięki zastosowaniu unikalnego programu komputerowego, osiągnięto dobrą dokładność wynoszącą 0,00025 nm. Automatyczna detekcja pozycji linii HOLZ na eksperymentalnych obrazach CBED w oparciu o transformatę Hough'a, pozwoliła na skrócenie czasu analizy, a w szczególności, na osiągnięcie sub-pikselowej precyzji wyznaczenia położenia tych linii. Użycie w eksperymencie orientacji osi pasów o wysokich wskaźnikach hkl umożliwiło pominięcie niezwykle czasochłonnych - dynamicznych symulacji obrazów CBED.

The CBED method was used for determination of the lattice parameters of a silicon single crystal. A computer program written for this application allow to achieve a good accuracy of 0.00025 nm. The Hough transform was applied for detection of the HOLZ line positions on the experimental CBED patterns, with the sub-pixels precision. In the experiment the high hkl indices CBED patterns were used, which allowed to omit the time consuming dynamical simulations of the CBED patterns.