Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metoda BCI

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych - metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania

Kołodziejski J. F.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

2003

z. 100

9-18

Prace prowadzone w IEC przez Grupę Roboczą WG9 w ramach Podkomitetu Technicznego SC 47A Układy Scalone, doprowadziły do opublikowania 5 dokumentów normalizacyjnych opisujących metody pomiarowe emisji zaburzeń elektromagnetycznych z układów scalonych. W pracy przedstawiono krótko opracowane dokumenty i zawarte w nich metody pomiarowe. Więcej uwagi poświęcono tworzonym obecnie normom dotyczącym metod pomiaru odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne promieniowane i przewodzone. W trzeciej części pracy omówiono kwestie dotyczące modelowania układów scalonych, które ma na celu umożliwienie przewidywania i ocenę kompatybilności elektromagnetycznej tych układów, głównie w fazie ich projektowania.

Intensive works conducted inside IEC by the Working Group WG9 of Technical Subcommittee 47A Integrated Circuits, allowed for the elaboration and publication of 5 standard documents (6 regarding the general part) IEC 61967 series, which describe the measurement methods of electromagnetic emissions of integrated circuits. These documents and the covered measurement methods are shortly reviewed in the work. More attention is paid to the currently considered standards embracing the measurement methods of ICs immunity against radiated and conducted electromagnetic disturbances. Among the methods there are following: testing inside TEM and GTEM cells, bulk current injection BCI, direct power injection DPI and testing inside workbench Faraday cage WBFC. Third part of the work is devoted to the problems of modeling of integrated circuits for the purpose of prediction and estimation of electromagnetic compatibility properties of these circuits, mainly at their design phase.