W artykule przedstawiono różne metody analizy niezawodności układu mostkowego - metodę dekompozycji, minimalnych przekrojów, minimalnych dróg połączeń oraz metodę macierzy połączeń. Dokładność przedstawionych metod analizy niezawodności układu mostkowego porównano na wspólnym wykresie. Praktyczne zastosowanie jednej z metod przedstawiono z zastosowaniem programu BlockSim, służącego do analizy niezawodności złożonych struktur niezawodnościowych. Wyznaczono niezawodność układu mostkowego modelując rozkład niezawodności poszczególnych elementów układu mostkowego odpowiednio za pomocą rozkładów: wykładniczego, normalnego i Weibulla.
EN
Various methods of the reliability bridge configuration analysis were introduced in the paper - decomposition method, minimum cut set, minimum tie set and the method of matrix connections. The accuracy of the introduced methods of the analysis of the reliability of the bridge configurations was compared on the common graph. The practical use of one of the methods was introduced with the use of the programme BlockSim, serving to the analysis of the reliability of complex structures of reliability. Modelling the reliability of the individual elements of the bridge configurations using exponential, normal and Weibull distribution, and the reliabilities of the bridge configuration were marked out.
Artykuł stanowi pierwszą część obszernego streszczenia rozprawy doktorskiej pod tytułem „Określenie mechanizmów krystalizacji w procesie MBE trójskładnikowych związków Cd1-xAxTe (A = Zn, Mn, Hg)", opracowanej na postawie badań prowadzonych przez autora w Laboratorium MBE Instytutu Technologii Próżniowej w Warszawie, w latach 1996 -1998. Opisano także techniki diagnostyczno-pomiarowe zastosowane w badaniach procesów powierzchniowych zachodzących podczas wzrostu warstw epitaksjalnych w warunkach bardzo wysokiej próżni, to jest: odbiciową spektrometrię mas (REMS), odbiciową dyfrakcję elektronów wysokoenergetycznych (RHEED) oraz interferometrię laserową (LI). Przeprowadzone w ramach pracy doktorskiej eksperymenty oraz wyniki naukowe uzyskane w ich toku zostaną zaprezentowane w następnym artykule, który ukarze się w kolejnym numerze czasopisma Elektronika.
EN
This paper is the first part of an extended abstract of the PhD thesis entitled „Determining of the growth mechanisms in MBE growth of ternary Cd1-xAxTe (A = Zn, Mn, Hg) compounds" written on the base of experiments performed in the MBE Lab. in Institute of Vacuum Technology, Warsaw. In that paper, the scientific problems to be solved in thesis are described. Also the analytical techniques [reflection quadrupole mass spectrometry (REMS), reflection high-energy electron diffraction (RHEED), and laser interferometry (LI)] used in investigation and its implementation to „in situ" measurements in MBE growth system are depicted. The experiments and extracted scientific results will be presented in the following paper, in next Elektronika issue.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.