Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2003

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metallographic specimens

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Identyfikacja faz metodą EBSD - problemy preparatyki

Klimek L., Jakubowski K.

Inżynieria Materiałowa

2003

R. XXIV, nr 6

318-321

Identyfikacja faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych ma potencjalnie szerokie zastosowanie w inżynierii materiałowej. Mimo, że jest to metoda stosunkowo prosta to jednak otrzymywane linie dyfrakcyjne nie zawsze są prawidłowo detektowane przez komputer. Przyczyny tego tkwią najczęściej w preparatyce próbek. W pracy przedstawiono wpływ sposobu w jaki zostały przygotowane zgłady metalograficzne wybranych materiałów na jakość otrzymywanych obrazów dyfrakcyjnych, a tym samym na możliwości identyfikacji obserwowanych faz. Przeprowadzone badania wykazały, że sposób przygotowania zgładów metalograficznych w bardzo dużym stopniu wpływa na identyfikację faz. Przy czym trudno jest ustalić uniwersalną preparatykę dla wszystkich materiałów.

Electron back scattered diffraction method of phases identification potentially has broad application in the materials science. Despite the fact that this method is relatively simple, obtained diffraction lines are not always correctly identified by a computer. Purposes of this are - in most cases - because of the samples preparation. The influence of the metallographic specimens preparation method of chosen materials on the quality of EBSP and on the possibility of phases identification has been presented in this work. During the research it was shown that the method of metallographic specimens preparation influences significantly the phases identification. In the mean time is very difficult to state the universal method of preparation for all the materials.