PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Mechanik
Autorzy help
  1. 1 Miller T.
Lata help
  1. 1 1999
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  measuring roughness of a surface
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Możliwości metrologiczne profilometrów i kształtografów IOS.
Miller T.
Mechanik
|
1999
|
R. 72, nr 5-6
395-397
PL
Przedstawiono podstawowe dane techniczne przyrządów do pomiaru chropowatości i kształtu powierzchni oraz zakresy analizy danych wykonywanych za pomocą programów PROFIL i KSZTAŁT, dołączonych do profilografometru PGM-IC i kształtografu PG-2/200. Omówiono także możliwości pomiarowe przenośnego profilometru PM-02C.
EN
Basic technical data of instruments for measuring roughness and shape of a surface. Scopes of analyses of data performed by means of programs PROFIL and KSZTAŁT connected to the profile measurement gauge PGM-IC and the shape analyser PG-2/200. Measurement possibilities of a mobile profile measurement gauge PM-02C.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.