Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: measuring antennas

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Anteny ramowe i dipolowe w metrologii pól elektromagnetycznych

Grudziński E., Prudyus I., Dąbrowski T., Niczoga W.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

2007

Vol. 56, nr sp.2

179-186

Do dziś najlepszymi czujnikami zarówno pola elektrycznego, jak i magnetycznego, i to w bardzo szerokim zakresie częstotliwości, głównie ze względu na reagowanie na ściśle określone składowe pola elektromagnetycznego (PEM) są powszechnie stosowane w metrologii pól elektromagnetycznych anteny ramowe i dipolowe. Powszechnie stosowane są zestawy do pomiarów natężeń pól elektromagnetycznych w różnych podzakresach częstotliwości, nawet do 60 GHz. W zdecydowanej większości przypadków są to krótkie elektrycznie symetryczne anteny dipolowe jako czujniki pola elektrycznego i małe elektrycznie anteny ramowe jako czujniki pola magnetycznego. Ich szerokie wykorzystywanie w metrologii PEM w bezpośrednim otoczeniu źródeł powoduje, że pojawiają się tutaj dodatkowe czynniki ograniczające dokładność prowadzonych pomiarów w porównaniu z warunkami istniejącymi na pierwotnych stanowiskach wzorców. Dotyczy to nie tylko samych procedur ich wzorcowania, lecz także prowadzonych później pomiarów w warunkach poligonowych w otoczeniu różnego rodzaju rzeczywistych źródeł pola elektromagnetycznego.

Until now, loop and dipole antennas, which are widely used in electromagnetic field (EMF) metrology, are the best sensors of both electrical and magnetic fields in the very wide frequency range because, first of all, of very precise determination of the EMF components. The sets for measuring the electromagnetic field strength in various frequency sub ranges up to 60 GHz are used everywhere. Small, electrically balanced dipole antennas as electrical field sensors and small electrical loop antennas as magnetic field sensors are commonly used. As a result of their wide use in EMF metrology, in close vicinity of sources, additional factors limiting accuracy of the carried out measurements appear in comparison with the conditions that exist at primary standard stands. That concerns not only the sensors verification procedures but also later conducted measurements in natural conditions in the surroundings of real electromagnetic field sources.