Omówiono specyficzne właściwości fotodiod lawinowych, stosowane procedury ich pomiarów i unikalne rozwiązania zastosowane w oprogramowaniu systemu.
EN
Features of the automatic system dedicated to testing semiconductor wafers containing avalanche photodiodes are presented. The paper contains descriptions of specific features of such photodiodes and used test methods. Main features of measurement devices used in the system and unique solutions applied in control software are described.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.