Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2011

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: measurement of low power

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiary mocy strat w niskostratnych rdzeniach nanokrystalicznych

Gozdur R., Majocha A., Gołębiowski J.

Pomiary Automatyka Kontrola

2011

R. 57, nr 11

1272-1275

Referat dotyczy problemu pomiarów małych mocy przy współczynniku mocy znacznie poniżej 0,1. Problem taki ma miejsce przy określaniu stratności niskostratnych lub małogabarytowych magnetowodów. W referacie przedstawiona została aplikacja definicyjnej metody pomiaru mocy strat oraz wyniki pomiarów dla rdzeni wykonanych z taśmy nanokrystalicznej. Wyniki pomiarów uzyskane zostały metodą planimetrowania pola powierzchni pętli histerezy. W dyskusji nad wynikami uwzględniona została analiza metrologiczna zastosowanej metody, analiza źródeł błędów wyniku pomiaru.

The paper concerns the problem of low power measurements at the power factor significantly less than 0.1. Such a problem occurs in determining the power loss of nanocrystalline or low-dimensioned cores. The paper presents application of the definitional method of measuring the power loss and measurement results for cores made of a nanocrystalline ribbon. The presented measurement results, graphs, and data were obtained from a measuring system developed by the authors. The paper contains the system description and specification of its technical parameters. The measurement results were obtained by defining the area of the magnetic hysteresis loop. The measurements were taken in the frequency range from 0.001 Hz up to 50 Hz. Calculations of the error are given for two significant values of the frequency. In the discussion of the results there were taken into account: metrological analysis of the method, analysis of uncertainty sources in the measurement result and comparison of the method with modern methods for measuring low power values.