Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: measurement conditioning

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface

Boryczko A.

Metrology and Measurement Systems

2002

Vol. 9, nr 2

159-169

The paper presents the conditions of measurement and analog-to-digital conversion and of frequency analysis of turned surface irregularities for the purpose of recognition of its main components. The limitations in measurement by stylus, which transforms transverse irregularities, have been presented. Dependence of digital parameters of measurement irregularity determining ranges of their analysis has also been discussed. For sampling interval value concerning unrealised Shannon's theorem the condition of "cut-off" high-frequency of irregularities signal has been shown. In summary the resulting frequency range of surface irregularities with high and low-frequency limitations has been given. Furthermore, the indication for the selection of suitable range of significant surface irregularities has been included.

W pracy przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione twiedzenie o próbkowaniu przedstawiono warunek obcięcia górnopasmowego sygnału nierówności. W posumowaniu podano wynikowy zakres częstotliwościowy nierówności powierzchni z dolno i górnoczęstotliwosciowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazanie ich doboru dla otrzymania właściwego zakresu znaczących nierówności powierzchni.