Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: materials analysis

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analiza materiałowa żydowskich przedmiotów modlitewnych - tefilin

Kozielec T., Maciaszczyk M.

Analityka : nauka i praktyka

2010

nr 3

59-63

Badaniom podddano dwa dawne żydowskie przedmioty religijne (nazywane 'tefilin' lub 'filakterie'), wykonane ze specjalnie preparowanej skóry zwierzęcej. Z punktu widzenia chemicznego/analitycznego 'tefilin' są w zdecydowanej większości zbudowane z materiałów proteinowych. Jadnak brak jest szczegółowych danych na temat wszystkich materiałów, z których wytwarza się owe niezwykłe przedmioty.

Analiza składu pierwiastkowego stopów lutowniczych metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego

Kaczorek K., Konarski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 7

101-104

Zaprezentowano wyniki prac badawczych dotyczących zastosowania spektrometru mas wyładowania jarzeniowego GDMS (glow discharge mas spectrometer) typ SMWJ-01 do analizy składu pierwiastkowego stopów lutowniczych. Celem głównym pracy było wykonanie analizy pierwiastkowej lutowia ze szczególnym uwzględnieniem zawartości ołowiu. Zbadano lutowia typu Sn97C, Sn100C, Sn63Pb37. W artykule zaprezentowano również wyniki analiz lutowi zawierających lit. W zastosowanym spektrometrze GDMS proces analityczny oparty jest na zjawisku wyładowania jarzeniowego, które powoduje trawienie i jonizację badanego materiału. Napięcie przykładane do badanej próbki wynosi -2500 V. Gazem wyładowczym jest argon o ciśnieniu 1hPa. Jako analizator wykorzystywany jest kwadrupolowy filtr mas. Użyty do analiz spektrometr wyładowania jarzeniowego SMWJ-01, opracowany w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym, przeznaczony jest do szybkiego i precyzyjnego określenia składu pierwiastkowego metali, stopów metali oraz izolatorów, może być również stosowany do analiz profilowych układów warstwowych.

Results of glow discharge mass spectrometry (GDMS) analysis are presented. Analysed were solder materials: Sn97C, Sn100C, Sn63Pb37. The main aim was to find concentration of lead. Solders containing Li were analysed as well. Glow discharge occurs during the analysis. Argon ions of the glow discharge are etching the surface of the analysed sample. Sputtered material is ionized in glow discharge and the obtained ions are extracted into quadrupole mass analyzer. Glow discharge is generated using 2500 V DC and 1hPa of argon as a discharge gas. GDMS (type SMWJ-01) spectrometer allows to perform quick and quantitative analysis of metals and its' alloys as well as isolators. This analyzer can also be used for depth profile analysis of thin films and layered structures.

Swift ion beams for solid state and materials science

Denker A., Bohne W., Heese J., Homeyer H., Kluge H., Lindner S., Opitz-Coutureau J., Röhrich J., Strub E.

Nukleonika

2003

Vol. 48,suppl.2

175-180

Ion beams are unique tools in modern science and technology. They are used for the analysis and modification of materials and are applied in medicine and technology. In cancer therapy fast protons allow a precise tailoring of the radiation field to the tumour, thus maximising the tumour control probability and simultaneously reducing the risk of side effects. Modification of the structure of solids by ion irradiation results in local structures on nano-scale, e.g. high-tech filters having defined pore numbers and pore sizes are produced by high-energy heavy ion irradiation with consecutive etching. Electronic devices utilised in areas with high radiation level have to be tested for their radiation hardness. The devices are irradiated with accelerated ions to receive the same dose by high-energy ions as expected during their lifetime. For materials sciences the analysis of composition and structure of solids is of uppermost importance. Complex layered structures are analysed by ERDA (Elastic Recoil Detection Analysis). Investigation of art and archaeological objects has to be non-destructive. PIXE (Proton Induced X-ray Emission) allows elemental analysis without sampling of the object. Different applications of high energy ions will be presented.