W artykule omówiono metodykę badań Przenośnej Mikroskopii Świetlnej (PMŚ) oraz wykazano możliwości opisu jakościowego i ilościowego mikrostruktury bez wycinania próbek. Uzasadnia to szerokie stosowanie tej metody w badaniach stanu technicznego instalacji przemysłowych.
EN
A methodology of examination using the Portable Light Microscopy (PMS). Possibilieties are proved of qualitative and quantitative description of the microstructure (test pieces left not cut down), which justifies its wide application in examining technical condition of industrial facilities.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.