Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2009

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: maszyna wektorów istotnych RVM

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie metod inteligencji obliczeniowej do analizy struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych

Jankowski S., Kamiński P., Kozłowski R., Szymański R., Będkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 8

285-290

Inteligentne algorytmy obliczeniowe, maszynę wektorów nośnych oraz maszynę wektorów istotnych, zaimplementowano w systemie pomiarowym do badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych metodą niestacjonarnej spektroskopii foto-prądowej. Skuteczność działania tych algorytmów sprawdzono poprzez ich zastosowanie do badania centrów defektowych w niedomieszkowanym monokrysztale InP, którego własności półizolujące otrzymane zostały w wyniku długotrwałej obróbki termicznej w atmosferze par fosforu.

Intelligent computational algorithms support vector machine (SVM) and relevance vector machine (RVM) has been implemented in the experimental system dedicated to studies of defect centres in high resistivity semiconductors by photoinduced transient spectroscopy (PITS). Functional effectiveness of these algorithms has been tested through their application to studying defect centres in an undoped InP single crystal whose semi-insulating properties were obtained by a long-term heat treatment in phosphorus vapour atmosphere.