Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mapowanie nierówności

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Symulacja odbicia światła od powierzchni odbłyśnika pokrytego fakturą makroskopową

Sawicki D.

Przegląd Elektrotechniczny

2005

R. 81, nr 7-8

46-49

Pokrycie powierzchni odbłyśnika fakturą makroskopową pozwala kształtować rozsył strumienia świetlnego. Do symulacji odbicia od powierzchni takiego odbłyśnika zaproponowano mapowanie nierówności jako technikę dającą możliwość efektywnego i niezależnego kształtowania makrostruktury. Do wyznaczania figury jasnych punktów zastosowano metodę śledzenia promieni. Praca przedstawia przykłady figur jasnych punktów dla różnych typów faktury pokrywającej powierzchnię odbłyśnika.

Covering the reflector with a macroscopic texture allows modeling the luminous flux distribution. The bump mapping application is proposed to the simulation of the light reflection from such reflector as a technique that allows modeling shape of the macroscopic texture effectively and independently. The light point figure is calculated using ray tracing. Examples of the light point figure for different shapes of covered macroscopic texture are presented.