PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mapa potencjałów
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
System for the potential map of metal and semiconductor surfaces monitoring
Tyavlovsky A., Zharin A.
Pomiary, Automatyka, Komputery w Gospodarce i Ochronie Środowiska
|
2010
|
nr 1
24-26
EN
The development of the system for the metal and semiconductor surfaces potential mapping is described. The system consists of a personal computer, developed hardware, named IS KPR and specialized software. Examples of practical application of above system are discussed.
PL
Opisano budowę systemu do monitoringu rozkładu potencjałów na powierzchni metali i półprzewodników. Zawiera on przenośny komputer, opracowany podzespół o nazwie IS KPR I specjalizowane oprogramowanie. Przedyskutowano przykłady zastosowania w praktyce tego systemu.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.