PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 7

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  magnetic force microscopy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Application of Fractal Analysis Methods for Lift Height Optimization in Magnetic Force Microscopy Measurements
Bramowicz M., Kulesza S., Chrostek T., Sendrowski C.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2018
|
Vol. 63, iss. 3
1109--1113
EN
The paper presents results of a research on simulation of magnetic tip-surface interaction as a function of the lift height in the magnetic force microscopy. As expected, magnetic signal monotonically decays with increasing lift height, but the question aris es, whether or not optimal lift height eventually exists. To estimate such a lift height simple procedure is proposed in the paper based on the minimization of the fractal dimension of the averaged profile of the MFM signal. In this case, the fractal dimension ser ves as a measure of distortion of a pure tip-surface magnetic coupling by various side effects, e.g. thermal noise and contribution of topographic features. Obtained simulation results apparently agree with experimental data.
2
Content available remote A new method for quantifying the nanoscale magnetic domains
Li Z., Hong Y., Zhang J., Li X.
Materials Science Poland
|
2016
|
Vol. 34, No. 4
924--927
EN
In this work, a signal transformation method to quantitatively analyze fine magnetic structures in nanometer length scales measured by magnetic force microscopy has been developed. Nanosized magnetic domains, magnetic charges with reconstructed polarity as well as quantified magnetic field contours of samples (such as ordered FePt dot arrays, hard magnetic thin films and polycrystalline La0.7Sr0.3 MnO3 (LSMO) films ) were investigated based on the basic principles of deconvolution and micromagnetics. The present technique is crucial for the analysis of fine magnetic structures, and is important for the development of next generation magnetic recording industry.
3
Content available Changes in magnetic domain structure of maraging steel studied by magnetic force microscopy
Bramowicz M., Kulesza S., Mrozek G.
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
|
2014
|
nr 17(4)
371--379
EN
The paper presents results on whether and how the magnetic domain structure in maraging steel undergoes any change due to the aging process. It continues the works on application of correlation methods and fractal analysis into studies of magnetic properties of various steel alloys using Scanning Probe Microscopy. It is aimed at verifying the usefulness of the structure function for description of spatial changes in shape and orientation of magnetic domains, and the magnitude of magnetic stray field affected by the heat treatment. Obtained results suggest that despite vanishing magnetic tip-surface interaction, and hence vanishing magnetic stray field, magnetic domains remain nearly perfectly isotropic although randomly oriented. Similar to isotropic real surfaces, the fractal dimension of the magnetic domains turns out to be independent of the structural changes induced by the aging process, whereas the topothesy is found to vary within order of magnitude along with changes in the magnetic stray field. After all, obtained results lead to conclusion that the aging process leaves its fingerprints in the structure of the steel alloys, which can be studied using numerical analysis of images of magnetic interactions between vibrating tip and the stray field.
4
Content available Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Bramowicz M., Kulesza S., Czaja P., Maziarz W.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2014
|
Vol. 59, iss. 2
451--457
EN
Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.
PL
Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.
5
Content available remote The study of magnetic domain development in shielding films using MFM technique
Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 8
208--210
EN
In the article we’ve described results of the research aimed on recognition magnetic domain structures of thin magnetic film that can be used as a shield. By correlating magnetic domain structures with macroscopic properties of the film, we can implement a new approach, where the large group of small samples is used to select limited group of large samples in order to perform final tests and select the solution suitable for mass production.
PL
W artykule zostały opisane wyniki badań mających na celu wskazanie możliwości zastosowania mikroskopii sił magnetycznych w opisywaniu cienkich warstw magnetycznych, stosowanych w ekranowaniu pola elektromagnetycznego.
6
Content available Ocena korelacji pomiędzy grubością a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NIFe
Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W.
Prace Instytutu Elektrotechniki
|
2012
|
Z. 259
83--84
PL
Cienkie warstwy NiFe są powszechnie wykorzystywane jako magnetyczne nośniki danych oraz czujniki. Szczególnie znany jest stop Ni83Fe17. Jedną z najpowszechniej wykorzystywanych metod otrzymywania cienkich warstw magnetycznych jest rozpylanie magnetronowe. Fizyczne i elektryczne właściwości cienkich warstw silnie zależą od wielu czynników, takich jak struktura krystalograficzna, orientacja, skład oraz rodzaj podłoża na którym warstwa została osadzona. Ponadto, w przypadku warstw magnetycznych, ich właściwości magnetyczne są określane poprzez magnetyczną strukturę domenową. W artykule przedstawiono wyniki badań mających na celu poznanie korelacji pomiędzy grubością, a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NiFe. W celu uzyskania ilościowego opisu uzyskanych wyników, z powodzeniem zastosowano algorytmy przeznaczone do analizy parametrów topografii.
EN
NiFe alloy thin films are commonly used in the area of memory devices for computers, magnetic recording media, sensor industry and microelectromechanical systems. In particular, Permalloy (Ni83Fe17) is well known group of thin films, because of its high magnetic saturation, low coercivity and low magnetization. One of the methods of providing high quality soft magnetic thin films is magnetron sputtering. Physical and electrical properties of thin films strongly depend on many parameters such as crystallographic structure, orientation, composition or the type of substrate. In addition, in the case of magnetic layers, their magnetic properties are determined by obtaining domain structure. In the article we’ve described results of the research aimed on recognition of correlation of film thickness and magnetic domain structures. In order to obtain quantitative description of obtained results, we’ve successfully applied algorithms designed for topography parameters determination.
7
Content available remote Nanoskopowa analiza orientacji domen magnetycznych z wykorzystaniem technik bliskiego pola
Ozimek M., Sikora A., Goworska-Koniarek D., Wilczyński W.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 4
72-74
PL
Cienkie warstwy NiFe otrzymano na szkle kwarcowym za pomocą impulsowego rozpylania magnetronowego. Proces nakładania prowadzono przy stałej mocy (550 W) i różnym ciśnieniu gazu roboczego (0,4, 1,0, 4,0 Pa). Zbadano strukturę domenową otrzymanych warstw za pomocą mikroskopii sił magnetycznych (MFM). Grubość powłok zawierała się w przedziale od 80 do 150 nm.
EN
NiFe thin films deposited onto Si substrate at room temperature via impulse magnetron sputtering. Magnetron deposition was carried out in sputtering power 550 W and different argon pressure (0.4, 1.0, 4.0 Pa). The ferromagnetic layers thicknesses were 80, 150 and 120 nm respectively. The samples were characterized by X-Ray diffraction. Effect of sputtering parameters on domain structure, as explored by magnetic force microscopy (MFM), was focused. The investigation showed a variety of magnetic domain microstructures
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.